一种二极管器件状态检测系统及方法

    公开(公告)号:CN114184922B

    公开(公告)日:2024-05-03

    申请号:CN202010863677.3

    申请日:2020-08-25

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本申请中一个或多个实施例提供一种二极管状态检测系统及方法,包括:检测二极管和光纤发射器,所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联;所述待测二极管与所述检测二极管同向。本申请直接利用待测二极管的通态电压降为检测系统提供检测电源,避免隔离供电,实现了对脉冲功率用隔离二极管的无源检测,提高了对二极管器件状态检测的可靠性,提高了检测系统的适用范围。

    一种二极管器件状态检测系统及方法

    公开(公告)号:CN114184922A

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202010863677.3

    申请日:2020-08-25

    IPC分类号: G01R31/26

    摘要: 本申请中一个或多个实施例提供一种二极管状态检测系统及方法,包括:检测二极管和光纤发射器,所述检测二极管与所述光纤发射器串联,所述检测二极管与光纤发射器均与待测二极管并联;所述待测二极管与所述检测二极管同向。本申请直接利用待测二极管的通态电压降为检测系统提供检测电源,避免隔离供电,实现了对脉冲功率用隔离二极管的无源检测,提高了对二极管器件状态检测的可靠性,提高了检测系统的适用范围。