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公开(公告)号：CN110118918A
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201910460346.2
申请日：2019-05-30
Applicant: 中科伟博(苏州)智能科技有限公司
IPC: G01R31/12
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置，其包括绝缘手柄、绝缘开合套环、MEMS光纤微电流传感器、放大处理模块、显示器和电源，所述绝缘开合套环由两个可相互开合的绝缘套臂组成，分别为左绝缘套臂和右绝缘套臂，两个绝缘套臂可转动连接在绝缘手柄的前端，且在两个绝缘套臂上设有四个MEMS光纤微电流传感器，所述MEMS光纤微电流传感器用于检测绝缘子串周围的磁场，并将检测的信号传输给放大处理模块，所述放大处理模块对接收到的信号放大处理后，将计算结果输送至显示器进行实时显示。本发明不受电磁干扰，以非接触式的测量方式可及时发现隐患，提高绝缘子运维效率。
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公开(公告)号：CN109358271A
公开(公告)日：2019-02-19
申请号：CN201811306632.5
申请日：2018-11-05
Applicant: 中科伟博(苏州)智能科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种基于MEMS光纤微电流传感技术的绝缘子劣化及污秽检测方法，其采用MEMS光纤微电流传感器构建污秽劣化绝缘子检测系统，通过检测绝缘子串微电流特征判断绝缘子运行状态信息；具体判断方法为：当检测的绝缘子串中通过的微电流基本不发生变化，即绝缘子交流阻抗很大且基本不发生变化，则判断当前绝缘子良好没有产生污秽及劣化；当检测的绝缘子串中微电流增大，则判断当前绝缘子表面积累了污秽物或绝缘子串中存在劣化绝缘子。本发明实现了绝缘子串无接触式测量，大幅提高绝缘子运维检修的安全性和检测效率。
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公开(公告)号：CN110118918B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN201910460346.2
申请日：2019-05-30
Applicant: 中科伟博(苏州)智能科技有限公司
IPC: G01R31/12
Abstract: 本发明公开了一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置，其包括绝缘手柄、绝缘开合套环、MEMS光纤微电流传感器、放大处理模块、显示器和电源，所述绝缘开合套环由两个可相互开合的绝缘套臂组成，分别为左绝缘套臂和右绝缘套臂，两个绝缘套臂可转动连接在绝缘手柄的前端，且在两个绝缘套臂上设有四个MEMS光纤微电流传感器，所述MEMS光纤微电流传感器用于检测绝缘子串周围的磁场，并将检测的信号传输给放大处理模块，所述放大处理模块对接收到的信号放大处理后，将计算结果输送至显示器进行实时显示。本发明不受电磁干扰，以非接触式的测量方式可及时发现隐患，提高绝缘子运维效率。
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公开(公告)号：CN210323255U
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201920796516.X
申请日：2019-05-30
Applicant: 中科伟博(苏州)智能科技有限公司
IPC: G01R31/12
Abstract: 本实用新型公开了一种基于光纤微电流传感器的绝缘子劣化检测装置，其包括绝缘手柄、绝缘开合套环、MEMS光纤微电流传感器、放大处理模块、显示器和电源，所述绝缘开合套环由两个可相互开合的绝缘套臂组成，分别为左绝缘套臂和右绝缘套臂，两个绝缘套臂可转动连接在绝缘手柄的前端，且在两个绝缘套臂上设有四个MEMS光纤微电流传感器，所述MEMS光纤微电流传感器用于检测绝缘子串周围的磁场，并将检测的信号传输给放大处理模块，所述放大处理模块对接收到的信号放大处理后，将计算结果输送至显示器进行实时显示。本实用新型不受电磁干扰，以非接触式的测量方式可及时发现隐患，提高绝缘子运维效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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