基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法及仪器

    公开(公告)号:CN103105285A

    公开(公告)日:2013-05-15

    申请号:CN201310023618.5

    申请日:2013-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器,包括:标准光源(1)及其稳流源(2),聚光镜(3),积分球(4)及其移动机构,分辨率靶(5),和CCD数据采集和微机处理系统(8),所述分辨率靶(5)设置在所述积分球(4)的均匀漫射出口上;本发明还公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法。本发明补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白,利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率,可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布,还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。

    基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法及仪器

    公开(公告)号:CN103105285B

    公开(公告)日:2015-03-18

    申请号:CN201310023618.5

    申请日:2013-01-22

    Abstract: 本发明公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器,包括:标准光源(1)及其稳流源(2),聚光镜(3),积分球(4)及其移动机构,分辨率靶(5),和CCD数据采集和微机处理系统(8),所述分辨率靶(5)设置在所述积分球(4)的均匀漫射出口上;本发明还公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试方法。本发明补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白,利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率,可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布,还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。

    一种多参数联动控制的智能LED植物生长灯

    公开(公告)号:CN103327699A

    公开(公告)日:2013-09-25

    申请号:CN201310284911.7

    申请日:2013-07-05

    CPC classification number: Y02B20/48 Y02P60/149

    Abstract: 一种多参数联动控制的智能LED植物生长灯,属于电子技术领域。结构上至少包括LED光源灯组、小型电风扇、水杯和核心系统;所述的核心系统至少包括作为控制核心的单片机、人机交互的键盘、由环境温度检测模块、环境湿度检测模块、环境中光色谱检测模块和环境中光强检测模块共同组成的环境变量采集器和由液晶显示模块、报警器、继电器、由通风系统和加热装置构成的执行机构和LED光源灯组构成的信号处理系统;LED光源灯组包括由蓝光、红光和白光三种光源灯组成的复合光源灯组;上述的通风系统包括小型电风扇和水杯。本发明通过时时采集环境变量来控制植物的生长状况,同时可以通过人为设置环境变量比较值来控制植物的生长状况。

    一种基于加速度计的电针仪

    公开(公告)号:CN204840668U

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201520367490.9

    申请日:2015-05-27

    Abstract: 一种基于加速度计的电针仪,在结构上包括单片机、人机交互键盘、液晶显示模块、数模转换器、波形输出电路、电针探头、加速度计模块。所述的人机交互键盘、液晶显示模块、数模转换器、加速度计模块与单片机相连。所述的数模转换器输出的模拟电压输入到波形输出电路,所述的电针探头与波形输出电路的输出端连接。所述的加速度计放置于人体电针部位。本实用新型通过采集加速度计的值获知抖动程度,自动计算并输出最佳的脉冲电压值,提高电针治疗效果。

    一种LED荧光粉膜在线涂敷控制装置

    公开(公告)号:CN203678651U

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201320815168.9

    申请日:2013-12-12

    Abstract: 本实用新型公开了一种LED荧光粉膜在线涂敷控制装置,包括:荧光粉膜厚度在线测试模块,荧光粉浆浓度自动控制机构,位置伺服系统,显示屏,键盘,喷头和主控芯片,所述显示屏和键盘与主控芯片连接,所述荧光粉膜厚度在线测试模块、位置伺服系统也和主控芯片连接,所述喷头、荧光粉膜厚度在线测试模块和位置伺服系统相连。本实用新型装置由装置自动完成;通过荧光粉膜厚度在线测试模块反馈回来的数据,整体过厚打开第一阀门加入液体,整体过薄打开第二阀门加入荧光粉,调整荧光粉浆到合适浓度;通过荧光粉膜厚度在线测试模块反馈回来的数据,可知涂敷过薄位置,利用伺服系统校准再次涂敷,确保荧光粉膜的均匀性。

    数字式测量光纤面板数值孔径的测量装置

    公开(公告)号:CN203203780U

    公开(公告)日:2013-09-18

    申请号:CN201320032781.3

    申请日:2013-01-22

    Abstract: 本实用新型公开了一种数字式测量光纤面板数值孔径的测量装置,包括光源模块、漫射光模块、光电倍增管采集模块和数据处理模块,待测光纤模块(6)设置在漫射光模块和光电倍增管采集模块之间,所述光源模块包括光源(1)和聚光镜(2),所述漫射光模块包括积分球(3)和移动台(4),所述光电倍增管采集模块包括光电倍增管(5),所述数据处理模块包括单片机(7)和计算机(8),所述单片机(7)和计算机(8)串口连接。本测量装置能够通过计算机控制光电倍增管实现对光子数的自动采集;能够根据给定的光子通过率测出相应的数值孔径。

    一种基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置

    公开(公告)号:CN203688501U

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201320814461.3

    申请日:2013-12-12

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于介电常数和频率校准的金属含量测定装置,包括原振荡频率信号和校准频率信号的产生部分、高频信号放大部分、PWM调制部分、LED驱动显示部分,所述原振荡频率信号和校准频率信号的产生部分为灵活式LC振荡电路和有源晶振的率压特性电路;高频信号放大部分为差分高频放大电路;PWM调制部分为基于单片机的A/D转换电路;LED驱动显示部分为基于PWM占空比的显示电路。本实用新型采用一种可移动式金属片和地面上的人体来作为装置的探头大大增加了其灵活性,最后用直观的LED灯的亮灭时间长短来反应被测物体中金属含量的多少,它更适用于现代社会的发展需求。

    基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器

    公开(公告)号:CN203069356U

    公开(公告)日:2013-07-17

    申请号:CN201320033067.6

    申请日:2013-01-22

    Abstract: 本实用新型公开了一种基于暗影剔除的光纤面板极限分辨率测试仪器,包括:标准光源(1)及其稳流源(2),聚光镜(3),积分球(4)及其移动机构,分辨率靶(5),和CCD数据采集和微机处理系统(8),所述分辨率靶(5)设置在所述积分球(4)的均匀漫射出口上;本实用新型补充当前对光纤面板极限分辨率测试技术的空白,利用一种分辨率靶剔除暗影点来精确的系统测量光纤面板各个部分的极限分辨率,可以给出不同光纤面板各个部分的分辨率分布,还能定位出光纤面板存在的暗影坐标。

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