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公开(公告)号:CN117629390B
公开(公告)日:2024-09-06
申请号:CN202311566895.0
申请日:2023-11-22
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01H17/00
Abstract: 本发明公开了一种超低频强次声校准装置,包括超低频振动台系统、强次声发生器、压力传感器和测控系统;超低频振动台系统包括振动台和信号发生器,信号发生器产生频率0.001Hz~20Hz的超低频正弦信号,驱动振动台产生正弦振动;强次声发生器包括腔体和活塞,活塞与振动台连接,活塞在振动台的正弦振动的驱动下产生往复正弦运动,压缩腔体中的空气产生次声信号;压力传感器采集强次声发生器的腔体内的压力信号,被校次声传感器采集腔体内的次声信号;测控系统采集压力传感器和被校次声传感器的输出,通过进行计算和比较,实现被校次声传感器的校准。本发明通过对次声传感器进行比较法校准,能够解决超低频强次声传感器的溯源问题。
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公开(公告)号:CN117629390A
公开(公告)日:2024-03-01
申请号:CN202311566895.0
申请日:2023-11-22
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01H17/00
Abstract: 本发明公开了一种超低频强次声校准装置,包括超低频振动台系统、强次声发生器、压力传感器和测控系统;超低频振动台系统包括振动台和信号发生器,信号发生器产生频率0.001Hz~20Hz的超低频正弦信号,驱动振动台产生正弦振动;强次声发生器包括腔体和活塞,活塞与振动台连接,活塞在振动台的正弦振动的驱动下产生往复正弦运动,压缩腔体中的空气产生次声信号;压力传感器采集强次声发生器的腔体内的压力信号,被校次声传感器采集腔体内的次声信号;测控系统采集压力传感器和被校次声传感器的输出,通过进行计算和比较,实现被校次声传感器的校准。本发明通过对次声传感器进行比较法校准,能够解决超低频强次声传感器的溯源问题。
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