一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器

    公开(公告)号:CN119619053A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411731611.3

    申请日:2024-11-28

    Abstract: 本发明公开了一种用于太赫兹测量系统纵向分辨力校准的一体式标准器,包括长方形上界面基板和台阶标准块,长方形上界面基板设置于台阶标准块上方,尺寸大于台阶标准块;台阶标准块的上端面加工成多个台阶,台阶高度规格对应太赫兹测量系统的纵向分辨力,长方形上界面基板与台阶标准块的台阶之间形成上下测量界面,通过太赫兹测量系统测量上下测量界面反射的太赫兹波,能够判断太赫兹测量系统是否具备与台阶高度规格对应的纵向分辨力;长方形上界面基板和台阶标准块的材质为天然或合成化合物经过成形和高温烧结制成的无机非金属陶瓷材料。本发明能够满足太赫兹测量系统对于纵向分辨力指标的测试与校准需求,确保测量结果的准确性和一致性。

    一种高精度小角度测量装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119374540A

    公开(公告)日:2025-01-28

    申请号:CN202411448577.9

    申请日:2024-10-16

    Abstract: 本发明公开了一种高精度小角度测量装置,包括平板、轴承、左支撑机构、右支撑机构、电机驱动装置、工作平面、高度测量装置以及数显表,工作平面的中心由轴承支撑,左右两侧分别由左支撑机构及右支撑机构支撑,工作平面的大梁能够绕着轴承转动,电机驱动装置包括电机和减速机,左支撑机构通过弹簧的释放或压缩,带动推杆在竖直方向上向上或向下移动;右支撑机构通过电机带动减速机转动,使精密螺杆在竖直方向上发生转动,带动花键轴上下移动,使工作平面右侧产生高度变化;高度测量装置测量工作平面右侧的高度变化,数显表显示工作平面右侧的高度变化值,并根据高度变化值计算得到角度值。本发明使用方便、结构稳定,可以测量高精度小角度值。

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