-
公开(公告)号：CN101728185B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN200910260398.1
申请日：2009-12-17
摘要： 本发明的一种散射型电子枪及使用方法，属于空间应用技术领域。本发明的散射型电子枪包括：阴极、辅助极、灯丝、陶瓷连接环、加速极、栅网。在真空中提供1～50KeV的低能电子；电子通过加速装置获取能量，并沿一定方向运动；发射电子通过栅网进行散射，产生密度为0.5～10nA/cm2的电子流。电子流散射均匀，能够在真空中模拟相应的空间电子环境。
-
公开(公告)号：CN101726702A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910259310.4
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01R31/302
摘要： 本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。在试验中首先监测单粒子翻转时引起的输出脉冲的丢失现象；然后以PWM输出高电平作为闸门控制信号对50MHz的脉冲信号进行计数，可以计算出高电平在测量周期中的时间，最后由MCU计算出PWM输出的占空比；对上传上位机进行监测；将输出信号幅值与PWM的输出脉冲信号的幅值进行比对，将监测结果上传上位机；PWM的输出频率与时钟频率不是2倍的关系，计数器记录，送入MCU进行监测并上传上位机；并在某个标准时间间隔Ts内，对脉冲进行计数，测出与门输出信号重复出现的次数。本发明应用于实验室对空间用PWM单粒子效应性能评估试验中。
-
公开(公告)号：CN101728185A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200910260398.1
申请日：2009-12-17
摘要： 本发明的一种散射型电子枪及使用方法，属于空间应用技术领域。本发明的散射型电子枪包括：阴极、辅助极、灯丝、陶瓷连接环、加速极、栅网。在真空中提供1～50KeV的低能电子；电子通过加速装置获取能量，并沿一定方向运动；发射电子通过栅网进行散射，产生密度为0.5～10nA/cm2的电子流。电子流散射均匀，能够在真空中模拟相应的空间电子环境。
-
公开(公告)号：CN101726254B
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN200910259317.6
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01B11/06
摘要： 本发明涉及一种用于确定器件单粒子敏感体积厚度的方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。计算激光在敏感体积中沉积的能量，当激光沉积在器件敏感体积单元中的电荷数，达到或超过器件临界电荷便发生单粒子效应，对于不同脉冲激光波长下的单粒子效应临界电荷相同，激光模拟系统的激光诱发得到单粒子效应能量阈值数据，得到器件单粒子效应敏感体积(Sv)厚度。本发明的方法对器件和实验人员无辐射损伤、操作非常便捷、费用廉价，能精确地测量器件敏感体积厚度大小。
-
公开(公告)号：CN101726702B
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN200910259310.4
申请日：2009-12-17
IPC分类号： G01R31/302
摘要： 本发明涉及一种脉宽调制器单粒子效应的测试方法，属于空间辐射效应及加固技术领域。在试验中首先监测单粒子翻转时引起的输出脉冲的丢失现象；然后以PWM输出高电平作为闸门控制信号对50MHz的脉冲信号进行计数，可以计算出高电平在测量周期中的时间，最后由MCU计算出PWM输出的占空比；对上传上位机进行监测；将输出信号幅值与PWM的输出脉冲信号的幅值进行比对，将监测结果上传上位机；PWM的输出频率与时钟频率不是2倍的关系，计数器记录，送入MCU进行监测并上传上位机；并在某个标准时间间隔Ts内，对脉冲进行计数，测出与门输出信号重复出现的次数。本发明应用于实验室对空间用PWM单粒子效应性能评估试验中。
-
公开(公告)号：CN102162825A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN201010624607.9
申请日：2010-12-30
IPC分类号： G01R27/02
摘要： 本发明公开了一种介质材料充放电测试设备，包括真空系统、充放电系统、电位测试系统；其中真空系统包括真空罐、机械泵(3)、扩散泵(2)、多级旋片泵(1)、阀门、密封管路和工作台；充放电系统由电子枪(6)和样品(11)安装系统组成；电位测试系统包括电位计(9)和微电流计(14)，真空罐内放置有真空阀门(4)、真空计(5)；此外，还有挡板阀A(15)、挡板阀B(16)以及铜板(13)；总之，本设备利用表面电位探针测量样品表面电位随时间的衰减关系，根据测量到的不同时间的样品表面衰减电位可推算出样品的电导率。本发明中电导率测试设备适宜于深层充电危害评估，可以为深层充放电效应的防护提供有价值的工程数据。
-
公开(公告)号：CN102128985A
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN201010624606.4
申请日：2010-12-30
IPC分类号： G01R27/02
摘要： 本发明公开了一种介质材料充放电测试方法，具体为测试前准备完成后；将电位探头位于样品上方零电位点处；确定样品安放位置，用探头驱动机构确定电位测量点的位置坐标，然后，关闭真空罐，打开电子枪电源，用法拉第杯测试使样品进行电子辐照；每隔10分钟将电位计探头迅速下降至距样品前表面处，进行感应式非接触测量；微电流计和电位探头测得的数据在正负0.5％内波动，即认为样品充电饱和，关闭电子枪，利用样品内部电荷Q的泄放呈指数形式衰减类似的过程，来测量样品的电位衰减过程，总之，利用表面电位探针测量样品表面电位随时间的衰减关系，根据测量到的不同时间的样品表面衰减电位可推算出样品的电导率。本发明中电导率测试设备适宜于深层充电危害评估，可以为深层充放电效应的防护提供有价值的工程数据。
-
公开(公告)号：CN102128985B
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201010624606.4
申请日：2010-12-30
IPC分类号： G01R27/02
摘要： 本发明公开了一种介质材料充放电测试方法，具体为测试前准备完成后；将电位探头位于样品上方零电位点处；确定样品安放位置，用探头驱动机构确定电位测量点的位置坐标，然后，关闭真空罐，打开电子枪电源，用法拉第杯测试使样品进行电子辐照；每隔10分钟将电位计探头迅速下降至距样品前表面处，进行感应式非接触测量；微电流计和电位探头测得的数据在正负0.5％内波动，即认为样品充电饱和，关闭电子枪，利用样品内部电荷Q的泄放呈指数形式衰减类似的过程，来测量样品的电位衰减过程，总之，利用表面电位探针测量样品表面电位随时间的衰减关系，根据测量到的不同时间的样品表面衰减电位可推算出样品的电导率。本发明中电导率测试设备适宜于深层充电危害评估，可以为深层充放电效应的防护提供有价值的工程数据。
-
公开(公告)号：CN102162825B
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN201010624607.9
申请日：2010-12-30
IPC分类号： G01R27/02
摘要： 本发明公开了一种介质材料充放电测试设备，包括真空系统、充放电系统、电位测试系统；其中真空系统包括真空罐、机械泵(3)、扩散泵(2)、多级旋片泵(1)、阀门、密封管路和工作台；充放电系统由电子枪(6)和样品(11)安装系统组成；电位测试系统包括电位计(9)和微电流计(14)，真空罐内放置有真空阀门(4)、真空计(5)；此外，还有挡板阀A(15)、挡板阀B(16)以及铜板(13)；总之，本设备利用表面电位探针测量样品表面电位随时间的衰减关系，根据测量到的不同时间的样品表面衰减电位可推算出样品的电导率。本发明中电导率测试设备适宜于深层充电危害评估，可以为深层充放电效应的防护提供有价值的工程数据。
-
公开(公告)号：CN102175486A
公开(公告)日：2011-09-07
申请号：CN201010624379.5
申请日：2010-12-31
IPC分类号： G01N1/10
摘要： 本发明公开了一种微小尘埃颗粒采集方法与结构，本方法提供航天器轨道环境中微小尘埃颗粒采集方法与结构方法，该方法可在模拟航天器轨道环境条件下，定量测量微小尘埃颗粒荷质比，提高了我国质量原位监测灵敏度，可达到1.10×10-9～4.42×10-9g/cm2，尘埃颗粒荷质比测试仪结构设计简单，主要有圆形栅板、中空圆柱电容器、QCM三部分组成，大大增加了试验测试过程中测量数据的准确性，降低了航天器轨道载荷使用风险，方法里中空柱状电容器的使用，减小了仪器设计尺寸，结合信号采集电路和组装盒，良好的测量了微小尘埃粒子的荷质比，试验过程稳定可靠，石英晶体微量天平的使用，良好的测量了通过粒子的质量变化，试验过程稳定可靠，复现性好。具有原位监测航天器轨道环境粒子荷质比的特色，且适应于规模化试验、生产、研究等。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
13 条记录 (耗时 0.043 秒)
