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公开(公告)号:CN120012374A
公开(公告)日:2025-05-16
申请号:CN202411973070.5
申请日:2024-12-30
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/20 , G06Q10/0639 , G06F17/10 , G06F119/04
Abstract: 本发明涉及一种航天产品技术成熟度评价方法,属于航天产品质量可靠性技术领域。具体过程为:步骤一、针对待评价产品,根据使用需求与技术发展路线确认被评价产品的关键技术;步骤二、根据关键技术的技术要素,围绕技术指标先进性A1、仿真试验完成性A2以及极限拉偏成效性A3进行量化评价;步骤三、确定技术要素的各项指标,得到关键技术的评价结果矩阵等级向量;步骤四、采用层次分析法对权重大小进行处理,首先对“产品—技术”层处理得到关键技术相对于被评价产品的权重向量N1,其次对“技术—指标”层处理得到各项指标在技术要素中所占的权重N2,进而得到各子要素相对于产品的权重N;步骤五、通过加权的方法计算得到产品的成熟度等级。
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公开(公告)号:CN117648771A
公开(公告)日:2024-03-05
申请号:CN202311625843.6
申请日:2023-11-30
Applicant: 中国航天标准化研究所
IPC: G06F30/17 , G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明提供一种基于双响应面的精密微特电机关键设计参数优化方法,优点在于采用双响应面的方法构建性能响应面和可靠性响应面,能够同时得到性能与可靠性约束条件下的最佳参数组合,通过形象直观的图像显示参数对精密微特电机的性能及可靠性的影响,方便开展精密微特电机设计工作。
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