一种外部干扰的定位方法及装置

    公开(公告)号:CN108243447B

    公开(公告)日:2020-11-24

    申请号:CN201611205594.5

    申请日:2016-12-23

    Abstract: 本发明提供了一种外部干扰的定位方法及装置。该方法包括:获取待分析区域的测量报告MR;根据各个测量点的参考信号接收功率RSRP测量值和参考信号接收质量RSRQ测量值计算参考信号接收质量RSRQ的理论最小值;获取所述待分析区域中目标测量点的集合,所述集合中的目标测量点的参考信号接收质量RSRQ测量值小于计算获取的参考信号接收质量RSRQ的理论最小值;根据所述目标测量点的集合定位所述待分析区域的外部干扰。本发明实施例通过分析测量报告确定待分析区域的目标测量点的集合,根据目标测量点的集合对外部干扰进行定位,无需进行复杂、繁琐的外场测试操作,提高了对外部干扰定位的准确性,提高了对外部干扰排查的效率。

    一种外部干扰的定位方法及装置

    公开(公告)号:CN108243447A

    公开(公告)日:2018-07-03

    申请号:CN201611205594.5

    申请日:2016-12-23

    CPC classification number: H04W24/10 H04W24/08

    Abstract: 本发明提供了一种外部干扰的定位方法及装置。该方法包括:获取待分析区域的测量报告MR;根据各个测量点的参考信号接收功率RSRP测量值和参考信号接收质量RSRQ测量值计算参考信号接收质量RSRQ的理论最小值;获取所述待分析区域中目标测量点的集合,所述集合中的目标测量点的参考信号接收质量RSRQ测量值小于计算获取的参考信号接收质量RSRQ的理论最小值;根据所述目标测量点的集合定位所述待分析区域的外部干扰。本发明实施例通过分析测量报告确定待分析区域的目标测量点的集合,根据目标测量点的集合对外部干扰进行定位,无需进行复杂、繁琐的外场测试操作,提高了对外部干扰定位的准确性,提高了对外部干扰排查的效率。

    基站覆盖区域仿真方法及装置
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118803843A

    公开(公告)日:2024-10-18

    申请号:CN202410724618.6

    申请日:2024-06-05

    Abstract: 本申请涉及仿真技术领域,提供一种基站覆盖区域仿真方法及装置。所述方法包括:根据目标区域内工参变化的实际基站的位置,在仿真界面调整与所述实际基站对应的待仿真基站的工参参数;对所述待仿真基站进行聚类外扩,得到待仿真区域;对所述待仿真区域进行仿真,得到增量仿真数据;将所述增量仿真数据与上一次基站覆盖区域仿真的全量仿真数据进行合并,得到所述目标区域内当前次基站覆盖区域仿真的全量仿真数据。本申请提供的基站覆盖区域仿真方法及装置可以通过对目标区域内发生工参变化的基站覆盖区域的增量仿真,实现对目标区域的高效全量仿真,且节约了人力资源。

Patent Agency Ranking