天线指标计算方法及装置

    公开(公告)号:CN102546049B

    公开(公告)日:2014-10-01

    申请号:CN201010624525.4

    申请日:2010-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种天线指标计算方法及装置。其中天线指标计算方法包括:对待测系统进行测试,获得待测系统的权值测试数据;设置待生成波束幅度方向图中离散点的数量,并设置离散点均匀分布,计算各个离散点的方位角和导向矢量;根据权值测试数据计算各个离散点对应的不同极化方向的功率值,将方位角相同的离散点的功率值进行叠加;根据设置的离散点及叠加后的离散点的功率值生成波束幅度方向图,根据波束幅度方向图计算天线波束的主瓣宽度指标值和旁瓣增益指标值。本发明的天线指标计算方法及装置,无需使用天线转台工具,节省了测试成本;同时可根据需要调整采样点的间距,极大节省了工作量,提升了指标精度。

    天线指标计算方法及装置

    公开(公告)号:CN102546049A

    公开(公告)日:2012-07-04

    申请号:CN201010624525.4

    申请日:2010-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种天线指标计算方法及装置。其中天线指标计算方法包括:对待测系统进行测试,获得待测系统的权值测试数据;设置待生成波束幅度方向图中离散点的数量,并设置离散点均匀分布,计算各个离散点的方位角和导向矢量;根据权值测试数据计算各个离散点对应的不同极化方向的功率值,将方位角相同的离散点的功率值进行叠加;根据设置的离散点及叠加后的离散点的功率值生成波束幅度方向图,根据波束幅度方向图计算天线波束的主瓣宽度指标值和旁瓣增益指标值。本发明的天线指标计算方法及装置,无需使用天线转台工具,节省了测试成本;同时可根据需要调整采样点的间距,极大节省了工作量,提升了指标精度。

Patent Agency Ranking