公开(公告)号：CN117367577A

公开(公告)日：2024-01-09

申请号：CN202311308027.2

申请日：2023-10-10

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 李炜 ,  范延东 ,  靳淳淇 ,  黄伟安 ,  朱菲 ,  仇成伟

IPC: G01J1/42 ,  G01J3/28 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明涉及光学探测技术领域，具体提供一种基于色散的非局域偏振光谱高维光电探测器，入射光经过空间光调制模块调制后以特定的空间光场形式照射在非局域色散器件上，由于空间光场中光的偏振态和光谱不同，空间光场照射到非局域色散器件上会产生相应的透射强度分布，光接收模块对透射强度分布进行成像，再通过信息分析模块对透射强度分布进行分析，输出入射光的高维强度、偏振及光谱信息。本发明能够对偏振态随波长变化光的高维度信息进行高精度探测，只需要单个探测器的单次测量即可获取准确的强度、偏振和光谱信息，极大降低了现有偏振光谱成像系统的复杂度以及测量的时间成本，对偏振光谱成像系统的小型化和轻量化具有重要意义。

公开(公告)号：CN117367577B

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202311308027.2

申请日：2023-10-10

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 李炜 ,  范延东 ,  靳淳淇 ,  黄伟安 ,  朱菲 ,  仇成伟

IPC: G01J1/42 ,  G01J3/28 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明涉及光学探测技术领域，具体提供一种基于色散的非局域偏振光谱高维光电探测器，入射光经过空间光调制模块调制后以特定的空间光场形式照射在非局域色散器件上，由于空间光场中光的偏振态和光谱不同，空间光场照射到非局域色散器件上会产生相应的透射强度分布，光接收模块对透射强度分布进行成像，再通过信息分析模块对透射强度分布进行分析，输出入射光的高维强度、偏振及光谱信息。本发明能够对偏振态随波长变化光的高维度信息进行高精度探测，只需要单个探测器的单次测量即可获取准确的强度、偏振和光谱信息，极大降低了现有偏振光谱成像系统的复杂度以及测量的时间成本，对偏振光谱成像系统的小型化和轻量化具有重要意义。