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发明公开
一种结构光三维测量的无效点去除方法及系统审中-实审

公开(公告)号：CN115235378A

公开(公告)日：2022-10-25

申请号：CN202210831038.8

申请日：2022-07-15

Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

Inventor： 王军 , 朱凯峰 , 何昕 , 穆治亚

IPC: G01B11/25 , G06T7/00

Abstract: 本申请提供的结构光三维测量的无效点去除方法及系统，通过获取条纹图案的包裹相位、背景强度及调制强度；根据所述包裹相位、背景强度及调制强度获取各个条纹图案坐标的序列点与理想余弦曲线之间的离散度；根据所述离散度逐点修正并建立新的误差能量函数；根据所述新的误差能量函数除去无效点，本申请提供的结构光三维测量的无效点去除方法及系统，易于实现，可用于不同场景下复杂物体的无效点去除任务，不仅对物体反射率或调制度不敏感，又有效解决了被测对象边缘难以分割的问题。

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