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公开(公告)号：CN117249972A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202310921835.X
申请日：2023-07-26
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及光学测量仪器设备技术领域，特别涉及一种同轴透射式损伤阈值自动测量系统，解决现有技术中的测量时避免对强光直接测量并减少样品杂质和不均匀带来的图像处理误差，即样品杂质影响图像处理以及损伤形貌不明显导致的漏检的技术问题，具体地配置采用计算机和时序脉冲发生器自动控制CMOS相机、转轮、能量计、激光器、二位平移台并采集数据，并进行损伤阈值计算。本发明的优势在于利用透射探测光斑的强度分布分析，不仅对透射率敏感，同时能够探测激光损伤导致的不可逆相位变化；采用同轴透射光路和弱‑强‑弱模式测量方案，配合相应的计算机控制及数据采集，能够避免对强光直接测量并减少样品杂质和不均匀带来的图像处理误差。
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公开(公告)号：CN112557321B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202011375027.0
申请日：2020-11-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种物质的光能量吸收率测量方法，包括预先搭建可输出两束相同光束且输出光束能量大小可调的测量光路结构，两束相同光束分别为测试光束和参照光束；控制待测样品在测试光束的输出光路上移动，并分别采集相关能量数据；再保持待测样品位置不变；调节测试光束和参照光束输出的光能量由小到大逐渐变化，并分别采集第二组能量数据；根据两组能量数据，确定待测样品随入射光能流密度变化的光能量吸收率。本申请中采用两种不同的方式分别采集两组能量数据，扩大待测样品表面能流密度变化范围区间，提高基于采集的能量数据确定的光能量吸收率的可用性。本申请还提供了一种物质的光能量吸收率测量装置和系统，具有上述有益效果。
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公开(公告)号：CN112557321A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011375027.0
申请日：2020-11-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种物质的光能量吸收率测量方法，包括预先搭建可输出两束相同光束且输出光束能量大小可调的测量光路结构，两束相同光束分别为测试光束和参照光束；控制待测样品在测试光束的输出光路上移动，并分别采集相关能量数据；再保持待测样品位置不变；调节测试光束和参照光束输出的光能量由小到大逐渐变化，并分别采集第二组能量数据；根据两组能量数据，确定待测样品随入射光能流密度变化的光能量吸收率。本申请中采用两种不同的方式分别采集两组能量数据，扩大待测样品表面能流密度变化范围区间，提高基于采集的能量数据确定的光能量吸收率的可用性。本申请还提供了一种物质的光能量吸收率测量装置和系统，具有上述有益效果。
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公开(公告)号：CN105611234B
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201510962305.5
申请日：2015-12-21
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种嵌入式系统任意帧频数字图像模拟显示方法，包括：时序匹配和状态监控逻辑判断流程和图像DA转换芯片的时序状态流程。本发明在图像存储区域切换操作过程中，设立了两个读写完成标志位，用以监控两级缓存的读写过程是否全部完成。仅当整个写如过程完成后才进行读取操作，这样可以确保显示图像的读取源头，来自同一帧数据。本发明可以有效防止图像显示“裂缝”这种现象的产生。
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公开(公告)号：CN100340953C
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200510016523.6
申请日：2005-01-13
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G06F3/02
Abstract: 一种属于电子学技术领域的数字信号处理器与标准计算机键盘的接口装置，包括数字信号处理器，反相器，两个电阻，两个三极管。数字信号处理器的数据端口P1、P2、P3、P4分别与反相器、两个三极管的基极相连；反相器与两个电阻和两个三极管集电极相连，电阻的另一端与键盘连接器的电源引脚相连；两个三极管集电极分别与键盘连接器的数据、时钟引脚相连；两个三极管的发射极与键盘连接器的电源地引脚相连。本发明通过硬件电气接口和数字信号处理器的软件实现DSP设备与计算机键盘的数据通讯，这种人机操作的接口输入信息丰富、成本低、键盘选择余地大，适合应用于需要进行比较复杂控制的各种DSP设备。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118914082B
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN202411403463.2
申请日：2024-10-09
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明属于光谱学技术领域，尤其涉及一种溶液吸光率谱测量装置及方法。装置包括连续谱白光光源、比色皿支架、可变光程组装比色皿、光纤光谱仪和上位机，可变光程组装比色皿内置有待测溶液，可变光程组装比色皿设置在比色皿支架内，连续谱白光光源发出的白光透过待测溶液后入射至光纤光谱仪内，光纤光谱仪与上位机相连，光纤光谱仪在上位机的控制下采集白光的光谱，上位机根据光谱计算待测溶液的吸光率谱。本发明适用于微量、溶剂化效应强和高透明溶液，装置的成本低，且能够实现一次性吸光率谱测量。
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公开(公告)号：CN1402549A
公开(公告)日：2003-03-12
申请号：CN01138793.9
申请日：2001-12-07
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种电视跟踪实时测量系统字符叠加显示方式，属于视频图像处理及显示技术领域中的一种字符叠加显示方式。本发明要解决的技术问题是：根据选用的字符叠加专用芯片的信息要求，中心处理单位发出信息控制指令，编好程序。解决技术问题的技术方案是：选用UPD6464芯片为字符叠加专用芯片，中心处理单元(CPU)发出单字节、双字节、连续字节三种命令格式的各种指令，来控制UPD6464专用芯片送出显示。本发明是由同步分离芯片、箝位芯片、字符叠加专用芯片、晶振、中心处理单元、显示器组成的。该字符叠加显示方式，电路简单、有多种显示方式，显示的字符可以设置背景和多种颜色，也可设置为闪烁方式。
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公开(公告)号：CN119757307A
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202510269013.7
申请日：2025-03-07
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明属于非线性光学技术领域，尤其涉及一种双光子荧光Z扫描装置及测量方法。方法包括：S1：利用平移台将待测样品移动至聚焦镜的焦点位置z1，获取当前的双光子荧光信号的波长窗口，荧光收集装置对应采集来自待测样品的双光子荧光信号；荧光强度测量模块、第一能量计和第二能量计将各自的采集结果发送至能量收集模块；S2：控制待测样品按预设步长沿聚焦镜的光轴移动，重复步骤S1，直至获得h组测量数据；S3：计算机基于h组测量数据完成对待测样品的Z扫描和双光子荧光数据的测量。本发明具备测量不同光强下的双光子荧光强度和双光子吸收系数的能力。
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公开(公告)号：CN119375163A
公开(公告)日：2025-01-28
申请号：CN202411462424.X
申请日：2024-10-18
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01N21/25 , G01N21/31 , G01N21/01 , G06V10/764 , G06V10/58
Abstract: 本发明涉及激光作用评估技术领域，尤其涉及一种高速远程激光作用效果评估系统及方法。被测物体的可见或红外辐射经过光学系统后，入射至分光镜组；分光镜组包括若干分光镜，分光镜接收激光光束后进行分光，并分别输出反射光束和沿透射光路传播的透射光束，反射光束进入探测通道，透射光束进入下一个分光镜；每个分光镜连接一个探测通道，探测通道连接数据存储模块；光谱仪采集最后一个分光镜出射的光束进行光谱数据处理，并将数据传输至数据存储模块中；高速相机、智能学习模块和作用效果评估模块分别连接数据存储模块。优点在于：基于激光作用程度来指导后续决策；探测帧频高、冗余数量小、数据处理简单等优势，有效提高激光作用效果判定的速度。
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公开(公告)号：CN117647900A
公开(公告)日：2024-03-05
申请号：CN202410126498.X
申请日：2024-01-30
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G02F1/01
Abstract: 本发明涉及非线性光学技术领域，尤其涉及一种相位调制光限幅器及其设计方法。方法为：S1：搭建调试光路结构；S2：主机将优化后的预设m阶贝塞尔光束的归一化系数输入至第一相位调制器，获得总的贝塞尔光束；S3：计算第一和第二相位调制器的距离；S4：根据步骤S3的计算结果对第一和第二相位调制器的距离进行调整；S5：根据第二相位调制器的解调相位，求解光限幅元件的微扰；S6：主机基于GS算法对第二相位调制器进行调节，完成对相位调制光限幅器的设计。本发明能够提升光限幅性能，具有成本低和工艺难度低的优点。
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