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公开(公告)号：CN115793265B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN202211517961.0
申请日：2022-11-29
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明的目的是解决现有针对超短激光脉冲的任意时空整形系统及方法存在需要根据输入光场和目标光场特殊定制零色散压缩器中的超表面和整形后误差较大的技术问题，而提供了一种基于空间光调制器的超短激光脉冲任意时空整形系统及方法。该方法超短激光脉冲依次入射至第一微型反射镜阵列、第一4f系统和第一光栅进行色散，调整第一微型反射镜阵列中微型反射镜的偏转角，使得色散后在空间光调制器上形成的光斑不重合，对入射元光束间隙空间和光谱分辨的相位和强度调制，调制后入射至第二光栅进行色散补偿，补偿后的入射至第二微型反射镜阵列，调整第二微型反射镜阵列中微型反射镜的偏转角度进行角度补偿，最后输出完成任意时空整形后的超短激光脉冲。
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公开(公告)号：CN116972990A
公开(公告)日：2023-10-31
申请号：CN202310774807.X
申请日：2023-06-28
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明提供了一种基于基频光调制采样的激光延时测量装置及方法，用于解决现有的使用平衡光学互相关法进行延时测量和同步过程中，单套BOC无法兼顾高精度和宽范围，且测量精度随着激光脉冲宽度的增大而降低，导致脉冲同步系统复杂的技术问题。本发明的测量装置设置有第一光阑，将一束激光通过第一光阑上大孔的光作为泵浦光，另一束激光通过第一光阑上两个小孔的光作为第一信号光和第二信号光；第一双折射晶体和第二双折射晶体用于在第一信号光和第二信号光之间引入延时差；移动第一反射镜或第二反射镜上设置的延时线，对不同延时下第一信号光和第二信号光的光强分别进行采样，就可以获得第一信号光和第二信号光的基频光调制强度差。
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公开(公告)号：CN114777917A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210350676.8
申请日：2022-04-02
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明提供了一种超短脉冲激光延时测量装置及方法，以解决现有技术对多束激光脉冲进行延时测量时无法标定零延时位置的技术问题。本发明的测量装置包括第一分束片、待测激光光路单元、参考激光光路单元、第二分束片、光谱调制片以及测量相机；参考激光光路单元设置了延时线；入射激光单元通过第一分束片获得参考激光、第一待测激光和第二待测激光。本发明的方法中第一待测激光和第二待测激光经光谱调制片调制后与一定角度入射的参考激光在测量相机上叠加，再通过延时线对参考激光进行延时处理，直至出现近场干涉图样，通过对比多组近场干涉图样，测量和标定多束超短脉冲激光间的脉冲零延时位置，获得脉冲延时差。
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公开(公告)号：CN115183885B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202210657773.1
申请日：2022-06-10
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明为解决现有脉冲载波包络相位噪声测量方法，存在测量条件苛刻，测量系统复杂的问题，而一种超短脉冲载波包络相位噪声单发测量装置及测量方法。该装置包括依次设置的双孔透光片、凹面镜和介质片；待测脉冲经双孔透光片上的两个大小不同的小孔将待测脉冲分成两个脉冲，较强的脉冲为调制脉冲；在较弱的脉冲的光路上设置有双折射延迟片，将透射后脉冲变成两个不同延时的共线的采样脉冲；调制脉冲和采样脉冲平行入射至凹面镜，经凹面镜反射后正入射至介质片；在采样脉冲反射光路上依次设有偏振器、透镜和能量探测器；采样脉冲经偏振器在空间上分光，再依次入射至透镜聚焦和能量探测器；利用光场诱导反射率调制得到待测脉冲的CEP变化。
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公开(公告)号：CN114659648B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202210307397.3
申请日：2022-03-25
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明为解决现有激光的脉冲特性在时间域的特性测量，不同的脉冲特性需要使用不同的仪器进行测量，采用的脉冲采样方法存在复杂的电流采集与分析系统的问题，而提出了一种基于三倍频调制采样的激光脉冲特性测量装置及测量方法。该装置包括激光器和在出射光路上设置的第一分束片；在参考光的光路上依次设有第二分束片、第一反射镜、凹面银镜、用于三倍频的介质片和CCD相机；所述参考光入射至CCD相机；在待测光的光路上设有第三分束片，将待测光分为基频光与信号光；基频光的光路上依次设有第二反射镜和用于合束的尖劈对；信号光的光路上设有延迟线；所述基频光与信号光经尖劈对合束后入射至凹面银镜，反射后经介质片入射至CCD相机。
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公开(公告)号：CN116184680A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310221191.3
申请日：2023-03-08
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明公开了一种基于场映射泵浦光束整形的光参量啁啾脉冲放大方法，将泵浦源输出的高斯光束输入折射率整形系统进行平顶光束整形，得到平顶型的泵浦光束；采用展宽器对信号光进行时间上的展宽，得到展宽后的信号光；将平顶型的泵浦光束与展宽后的信号光同时入射到非线性晶体同一位置进行光参量放大，得到放大后的信号光；通过折射率整形系统将泵浦光束由高斯型整形为平顶型，使得信号光在不同空间位置处得到均匀的增益，提升了泵浦光到信号光的转换效率，此外，通过折射率整形系统得到的输出光束的能量相对于输入光束而言几乎没有损失，解决了现有技术中泵浦光束的光参量啁啾脉冲放大效率不高和脉冲时空质量不高的技术问题。
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公开(公告)号：CN114361925A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202111580155.3
申请日：2021-12-22
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及激光脉冲测试技术，具体涉及一种基于荧光调制采样的激光脉冲特性测量装置及方法。解决了现有激光脉冲特性测量中波长带宽受限，且不同波长激光脉冲的测量需要不同的非线性晶体的技术问题。本发明装置由激光器产生激光，经第一分束片将激光分成透射光和参考光，参考光依次经过第三分束片、第二反射镜后入射至凹面银镜，再聚焦至荧光晶体产生荧光，荧光通过聚焦镜成像在相机上；透射光束经第二分束片分为基频光与信号光，经过第一反射镜后的基频光与通过延时线后的信号光通过尖劈对进行合束后入射至凹面银镜，再聚焦至荧光晶体产生荧光，最终通过聚焦镜成像在相机上。本发明还提供了一种基于荧光调制采样的激光脉冲特性测量方法。
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公开(公告)号：CN115981015B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202211615934.7
申请日：2022-12-15
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明为解决现有激光技术仅能获得多周期相对论强度涡旋光，借助等离子体的光子减速机理或三阶非线性光学效应获得单周期相对论强度涡旋光时，存在所需光学系统和条件十分困难且复杂和调试精度要求非常高的技术问题，提供了一种基于多薄片后压缩的单周期相对论涡旋光产生系统及方法。本发明首先利用螺旋相位板将多周期相对论强度基模高斯光束转换为多周期相对论强度涡旋光，然后通过三阶非线性光学效应对入射的多周期相对论强度涡旋光进行光谱展宽，最后利用啁啾镜进行脉冲压缩，尖劈对进行色散补偿，得到单周期相对论强度涡旋光。相较于现有系统本发明基于全光学器件，系统结构简单，能量传输效率高。
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公开(公告)号：CN116952397A
公开(公告)日：2023-10-27
申请号：CN202310774808.4
申请日：2023-06-28
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC分类号： G01J11/00
摘要： 本发明提供了一种基于基频光调制采样的激光脉冲特性测量装置及方法，用于解决现有测量光路中由于采用多个透射式光学元件且引入了定量的材料色散，导致对少周期乃至单周期的飞秒超短脉冲激光不能简单、有效测量的技术问题。本发明提供的测量装置设置有第一光阑，将待测超短脉冲激光通过第一光阑上大孔的光作为泵浦光，通过小孔的光作为信号光；泵浦光依次经第二反射镜、凹面镜、介质反射后，被遮挡物完全遮挡；信号光依次经第一反射镜、凹面镜、介质反射后，再通过第二光阑的边缘区域及透镜聚焦至光谱仪；通过移动第一反射镜或第二反射镜上的延时线，对不同延时下信号光光强进行采样，获得不同延时下基频光调制强度曲线。
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公开(公告)号：CN116799595A
公开(公告)日：2023-09-22
申请号：CN202310924307.X
申请日：2023-07-26
申请人： 中国科学院西安光学精密机械研究所
摘要： 本发明涉及超短超强飞秒脉冲激光的获取方法，为解决现有技术中存在的系统尺寸随着脉冲能量的增加而急剧增大，不利于光谱展宽和超短超强飞秒脉冲激光获取、不利于技术应用的问题。本发明提出一种基于场映射光束整形器的脉冲后压缩系统，包括沿目标光源入射光路依次设置的光束整形系统、光谱展宽系统和色散补偿系统，入射的目标光源经过光束整形系统的场映射光束整形器进行光束整形后，获得超高斯型光束，然后再经过光谱展宽系统对光束进行光谱展宽，最后再通过色散补偿系统进行色散补偿，从而获得超短超强飞秒脉冲激光；本发明还提出了一种基于场映射光束整形器的脉冲后压缩方法。
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