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公开(公告)号：CN105845530B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201610187040.0
申请日：2016-03-29
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明提供了一种具有频率连续调谐装置的速调管腔体及其组装方法，通过内调谐杆组件、外调谐杆组件和支撑组件的配合实现谐振频率调节，调谐组件占用空间小、无需附加额外设备；膜片与腔体之间保证了良好的电接触和高机械强度；冷却水通路，能够快速传导膜片上累积的热量；在内调谐杆与内卡板之间放置弹簧，消除了内调谐杆组件与外调谐杆组件之间因零件配合误差引起的晃动；外调谐杆外壁螺纹和固定螺套内壁螺纹具有第二螺距，外调谐杆内壁螺纹和内调谐杆的长螺杆螺纹具有第一螺距，第二螺距小于第一螺距，实现了对膜片形变量的精确控制，从而能够连续地对腔体谐振频率进行微调。
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公开(公告)号：CN105845530A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610187040.0
申请日：2016-03-29
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明提供了一种具有频率连续调谐装置的速调管腔体及其组装方法，通过内调谐杆组件、外调谐杆组件和支撑组件的配合实现谐振频率调节，调谐组件占用空间小、无需附加额外设备；膜片与腔体之间保证了良好的电接触和高机械强度；冷却水通路，能够快速传导膜片上累积的热量；在内调谐杆与内卡板之间放置弹簧，消除了内调谐杆组件与外调谐杆组件之间因零件配合误差引起的晃动；外调谐杆外壁螺纹和固定螺套内壁螺纹具有第二螺距，外调谐杆内壁螺纹和内调谐杆的长螺杆螺纹具有第一螺距，第二螺距小于第一螺距，实现了对膜片形变量的精确控制，从而能够连续地对腔体谐振频率进行微调。
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公开(公告)号：CN105551919A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201511010305.1
申请日：2015-12-29
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： H01J25/10
CPC分类号： H01J25/10
摘要： 本发明公开了速调管谐振腔特性参数的确定方法。在速调管谐振腔特性参数的确定方法中，速调管谐振腔特性参数包括所述谐振腔腔体的谐振频率和谐振腔的品质因数，该方法包括以下步骤：群时延曲线测量步骤，测量谐振腔的群时延曲线，以确定所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态；驻波比曲线测量步骤，测量谐振腔的驻波比曲线；以及特性参数确定步骤，根据对驻波比曲线的测量结果以及所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态，确定谐振腔的品质因数。本发明对过耦合和欠耦合的谐振腔均能适用，有效克服了现有技术中群时延曲线仅对过耦合谐振腔有意义的缺点，可用于速调管高损耗谐振腔特性参数的确定和优化。
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公开(公告)号：CN105551919B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201511010305.1
申请日：2015-12-29
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： H01J25/10
摘要： 本发明公开了速调管谐振腔特性参数的确定方法。在速调管谐振腔特性参数的确定方法中，速调管谐振腔特性参数包括所述谐振腔腔体的谐振频率和谐振腔的品质因数，该方法包括以下步骤：群时延曲线测量步骤，测量谐振腔的群时延曲线，以确定所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态；驻波比曲线测量步骤，测量谐振腔的驻波比曲线；以及特性参数确定步骤，根据对驻波比曲线的测量结果以及所述谐振腔腔体的谐振频率和耦合状态，确定谐振腔的品质因数。本发明对过耦合和欠耦合的谐振腔均能适用，有效克服了现有技术中群时延曲线仅对过耦合谐振腔有意义的缺点，可用于速调管高损耗谐振腔特性参数的确定和优化。
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