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公开(公告)号:CN104881618A
公开(公告)日:2015-09-02
申请号:CN201410856616.9
申请日:2014-12-31
Applicant: 中国科学院深圳先进技术研究院 , 国家密码管理局商用密码检测中心
IPC: G06F21/77
Abstract: 本发明提供了一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统,通过对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,再对敏感点进行错误注入攻击,确定每个敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度,之后确定安全芯片在时间、空间上的敏感区域,其中n表示所述敏感点的个数,t(i)表示第i个敏感点的敏感时间长度,i为正整数,最后根据安全芯片的总面积、安全芯片完成一次加/解密所需要的总时间以及安全芯片在时间、空间上的敏感区域,对安全芯片的安全性进行量化评估。因此,根据本发明实施例的量化评估安全芯片安全性的方法及系统,能够在空间和时间上对安全芯片的安全性进行量化评估。
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公开(公告)号:CN104881618B
公开(公告)日:2018-11-13
申请号:CN201410856616.9
申请日:2014-12-31
Applicant: 中国科学院深圳先进技术研究院 , 国家密码管理局商用密码检测中心
IPC: G06F21/77
Abstract: 本发明提供了一种量化评估安全芯片安全性的方法及系统,通过对待评估安全芯片进行错误注入攻击,以确定安全芯片在空间上的易受错误注入攻击的敏感点,再对敏感点进行错误注入攻击,确定每个敏感点易受错误注入攻击的敏感时间长度,之后确定安全芯片在时间、空间上的敏感区域其中n表示所述敏感点的个数,t(i)表示第i个敏感点的敏感时间长度,i为正整数,最后根据安全芯片的总面积、安全芯片完成一次加/解密所需要的总时间以及安全芯片在时间、空间上的敏感区域,对安全芯片的安全性进行量化评估。因此,根据本发明实施例的量化评估安全芯片安全性的方法及系统,能够在空间和时间上对安全芯片的安全性进行量化评估。
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