公开(公告)号：CN103837476A

公开(公告)日：2014-06-04

申请号：CN201210472669.1

申请日：2012-11-21

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01N21/21

Abstract: 本发明涉及一种Mueller矩阵的自校准测量方法，目前存在的Mueller矩阵测量方法的最大特点是需要对测量装置的光学系统精密定标，增加了Mueller矩阵精密测量的难度。本发明通过测量放入待测样品前后输出偏振态的Stokes参数，建立起由测得的输出光强、系统未知参数与被测样品的Mueller矩阵之间的函数关系式，使用多参数的非线性拟合方法求解得到待测样品的Mueller矩阵。使用本发明无需对测量系统精密定标，实现了Mueller矩阵的自校准测量，测量方法简单易行，可以广泛应用于各种偏振元件及光学系统的Mueller矩阵检测。

公开(公告)号：CN107024277B

公开(公告)日：2018-05-08

申请号：CN201710230860.8

申请日：2017-04-10

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01J4/04

Abstract: 本发明公开了一种基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及基于此线偏振分析器实施的偏振测量方法。线偏振分析器包括沿同一光轴依次排列的第一、第二KD*P调制器、1/4波片、检偏器、成像透镜和探测器；探测器将光强值送给计算机；信号发生器控制交流高压调制器，通过交流高压调制器对第一、第二KD*P调制器的频率相位实现调制；计算机控制同步控制器，同步控制器对信号发生器和探测器进行同步控制。本发明使用两个固定的KD*P调制器替代了传统的旋转加KD*P调制方式，入射光束射入便开始测量，测量速度快、灵敏度高，充分利用了KD*P晶体的高调制频率。

公开(公告)号：CN104062094A

公开(公告)日：2014-09-24

申请号：CN201310088270.8

申请日：2013-03-20

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明属于偏振光学检测技术领域，涉及一种判断铁电液晶波片(FeLC)快慢轴方位的新方法。本发明根据旋转波片法和相位调制法的基本原理，将待测FeLC置于椭偏场中，由偏振光学传输理论获得出射光强与FeLC快慢轴参考方位之间的函数关系，通过测量FeLC调制后的两个出射光强是否相等判断其快慢轴的参考方位。该测量方法不依赖于FelC的相位延迟和调制角以及椭偏场中其他波片的相位延迟，测量方法简单易行且精度高，可以广泛应用于任意相位延迟的铁电液晶波片的快慢轴判断。

公开(公告)号：CN114185144B

公开(公告)日：2023-08-15

申请号：CN202111489961.X

申请日：2021-12-08

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 沈宇樑 ,  王东光 ,  侯俊峰

IPC: G02B7/00 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于小口径平面镜装调大口径光学系统的装调方法。本发明包括一个待装调光学系统、一块小口径平面反射镜和一台干涉仪；待装调光学系统完成粗定位后，将平面反射镜放置在待装调的光学系统前；光学系统、小口径平面反射镜和干涉仪构成干涉光路；通过干涉仪得到系统成像波像差均方根值和各项泽尼克多项式系数值后，使用光学软件进行逆向优化，得到光学元件的失调量，从而进行系统装调。与传统的全口径平面反射镜干涉装调方法相比，小口径平面反射镜造价低，大大降低装调设备的成本；并且小口径平面反射镜在特殊姿态下能较好的保证其面型精度，适用于特殊姿态的光学系统装调。

公开(公告)号：CN114185144A

公开(公告)日：2022-03-15

申请号：CN202111489961.X

申请日：2021-12-08

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 沈宇樑 ,  王东光 ,  侯俊峰

IPC: G02B7/00 ,  G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于小口径平面镜装调大口径光学系统的装调方法。本发明包括一个待装调光学系统、一块小口径平面反射镜和一台干涉仪；待装调光学系统完成粗定位后，将平面反射镜放置在待装调的光学系统前；光学系统、小口径平面反射镜和干涉仪构成干涉光路；通过干涉仪得到系统成像波像差均方根值和各项泽尼克多项式系数值后，使用光学软件进行逆向优化，得到光学元件的失调量，从而进行系统装调。与传统的全口径平面反射镜干涉装调方法相比，小口径平面反射镜造价低，大大降低装调设备的成本；并且小口径平面反射镜在特殊姿态下能较好的保证其面型精度，适用于特殊姿态的光学系统装调。

公开(公告)号：CN102589850B

公开(公告)日：2014-02-19

申请号：CN201210009867.4

申请日：2012-01-13

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种波片相位延迟的精密测量方法及其系统，包括一光源，在该光源发出光的前进方向上依次放置光纤耦合器、起偏器、补偿器及待测样品、偏振片、检偏器、成像透镜、单色仪和探测器，补偿器由计算机控制的电机带动旋转，探测器的输出经数据采集卡传至电子计算机进行数据处理；计算机通过数据采集卡控制单色仪选择波长；计算机通过数据采集卡发送脉冲信号到电机驱动以控制电机以定步长旋转补偿器；方法是在旋转补偿器的椭偏仪的基础上将其相位延迟作为未知参数建立四个非线性方程，求解得到待测样品的相位延迟。测量过程实现了补偿器相位延迟的自校准，消除了其定标不准确带来的系统误差；且利用三步测量法消除了系统中偏振元件的方位角误差的影响。

公开(公告)号：CN115685024A

公开(公告)日：2023-02-03

申请号：CN202211328355.4

申请日：2022-10-26

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01R33/032 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明公开了一种全斯托克斯参数分析仪及其偏振测量方法。本发明的分析仪括三个磷酸二氘钾电光晶体调制器，固定延迟器、检偏器、成像透镜、探测器、计算机、信号发生器和交流高压调制器；其中，入射的目标光束依次通过第一KD*P、第二KD*P、固定延迟器、第三KD*P、检偏器后经成像透镜入射至探测器；信号发生器收到计算机发出的测量指令后输出四路倍频信号，将一路信号输出给探测器，其余三路信号输出给交流高压调制器；交流高压调制器利用三路信号分别控制第一～第三KD*P的相位延迟以±45°、±60°、±90°周期性方波变化；探测器将光信号转换为电信号后发送给计算机进行处理，得到目标光束的全斯托克斯参数。

公开(公告)号：CN102589850A

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN201210009867.4

申请日：2012-01-13

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01M11/02

Abstract: 一种波片相位延迟的精密测量方法及其系统，包括一光源，在该光源发出光的前进方向上依次放置光纤耦合器、起偏器、补偿器及待测样品、偏振片、检偏器、成像透镜、单色仪和探测器，补偿器由计算机控制的电机带动旋转，探测器的输出经数据采集卡传至电子计算机进行数据处理；计算机通过数据采集卡控制单色仪选择波长；计算机通过数据采集卡发送脉冲信号到电机驱动以控制电机以定步长旋转补偿器；方法是在旋转补偿器的椭偏仪的基础上将其相位延迟作为未知参数建立四个非线性方程，求解得到待测样品的相位延迟。测量过程实现了补偿器相位延迟的自校准，消除了其定标不准确带来的系统误差；且利用三步测量法消除了系统中偏振元件的方位角误差的影响。

公开(公告)号：CN107024277A

公开(公告)日：2017-08-08

申请号：CN201710230860.8

申请日：2017-04-10

Applicant: 中国科学院国家天文台

Inventor： 侯俊峰

IPC: G01J4/04

CPC classification number: G01J4/04 ,  G01J4/00 ,  G01J2004/001

Abstract: 本发明公开了一种基于磷酸二氘钾调制的线偏振分析器及基于此线偏振分析器实施的偏振测量方法。线偏振分析器包括沿同一光轴依次排列的第一、第二KD*P调制器、1/4波片、检偏器、成像透镜和探测器；探测器将光强值送给计算机；信号发生器控制交流高压调制器，通过交流高压调制器对第一、第二KD*P调制器的频率相位实现调制；计算机控制同步控制器，同步控制器对信号发生器和探测器进行同步控制。本发明使用两个固定的KD*P调制器替代了传统的旋转加KD*P调制方式，入射光束射入便开始测量，测量速度快、灵敏度高，充分利用了KD*P晶体的高调制频率。