一种用于紫外探测器的大相对孔径宽波段紫外物镜

    公开(公告)号:CN1920608A

    公开(公告)日:2007-02-28

    申请号:CN200610031014.5

    申请日:2006-09-11

    Inventor: 黄翌敏 龚海梅

    Abstract: 本发明公开了一种用于紫外探测器的大相对孔径宽波段紫外物镜,物镜采用同轴透射结构,从物方至像方按顺序依次由第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、光阑、第六透镜、第七透镜、第八透镜、第九透镜构成复杂化双高斯型前透镜组;由第十透镜、第十一透镜构成像散场曲修正后透镜组。所有透镜曲面都采用标准球面。由于来自目标的信号具有较宽的波段范围,前透镜组采用多个胶合透镜,可使得物镜有大相对孔径的同时有效减小色差。本发明的优点是:没有中心遮拦的影响;简化了加工、装配的要求;所有透镜表面均为球面,降低了加工难度;可以实现较大的相对孔径、较宽的波段工作范围。

    宽温度范围的高低温循环设备

    公开(公告)号:CN1603778A

    公开(公告)日:2005-04-06

    申请号:CN200410067891.9

    申请日:2004-11-05

    Abstract: 一种宽温度范围的高低温循环设备,系为从低温≤-173℃到室温的温度循环设备,主要用于人造卫星上的红外探测器的环境应力筛选。该设备主要由一个主系统和一个从系统以及一个PC机组成。主系统主要负责实现温度循环功能及控制,从系统为主系统的冷环境自动补充消耗掉的液氮。设备可以记录热环境温度,和温度循环次数并显示在控制面板上。另外设备能有效地避免意外情况带来的损失。本设备的最大优点是可以自动完成半导体器件的温度循环试验,工作人员只需隔几天给母缸倒入液氮即可。另外本设备的温度循环还可具有从低于-173℃到300℃极广的温度试验范围,可以用来完成此温度范围内要求的半导体器件的环境应力筛选和器件可靠性测试。

    一种用于紫外探测器的大相对孔径宽波段紫外物镜

    公开(公告)号:CN100406951C

    公开(公告)日:2008-07-30

    申请号:CN200610031014.5

    申请日:2006-09-11

    Inventor: 黄翌敏 龚海梅

    Abstract: 本发明公开了一种用于紫外探测器的大相对孔径宽波段紫外物镜,物镜采用同轴透射结构,从物方至像方按顺序依次由第一透镜、第二透镜、第三透镜、第四透镜、第五透镜、光阑、第六透镜、第七透镜、第八透镜、第九透镜构成复杂化双高斯型前透镜组;由第十透镜、第十一透镜构成像散场曲修正后透镜组。所有透镜曲面都采用标准球面。由于来自目标的信号具有较宽的波段范围,前透镜组采用多个胶合透镜,可使得物镜有大相对孔径的同时有效减小色差。本发明的优点是:没有中心遮拦的影响;简化了加工、装配的要求;所有透镜表面均为球面,降低了加工难度;可以实现较大的相对孔径、较宽的波段工作范围。

    宽温度范围的高低温循环设备

    公开(公告)号:CN100359310C

    公开(公告)日:2008-01-02

    申请号:CN200410067891.9

    申请日:2004-11-05

    Abstract: 一种宽温度范围的高低温循环设备,系为从低温≤-173℃到室温的温度循环设备,主要用于人造卫星上的红外探测器的环境应力筛选。该设备主要由一个主系统和一个从系统以及一个PC机组成。主系统主要负责实现温度循环功能及控制,从系统为主系统的冷环境自动补充消耗掉的液氮。设备可以记录热环境温度,和温度循环次数并显示在控制面板上。另外设备能有效地避免意外情况带来的损失。本设备的最大优点是可以自动完成半导体器件的温度循环试验,工作人员只需隔几天给母缸倒入液氮即可。另外本设备的温度循环还可具有从低于-173℃到300℃极广的温度试验范围,可以用来完成此温度范围内要求的半导体器件的环境应力筛选和器件可靠性测试。

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