一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统

    公开(公告)号:CN104181110B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201410403293.8

    申请日:2014-08-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于显微镜的激光双调制光谱系统,它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现:根据激光双调制工作原理,将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光,低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光,然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面,单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处,通过电机控制对样品面进行二维扫描,获得相关光学信号。本发明实现了纳米量级区域的光谱探测,有效地消除了背景反射光的干扰,可以应用于微纳光学领域的光学特征光谱的测量。

    一种基于数字微反射镜的便携式高光谱重构器

    公开(公告)号:CN104359555A

    公开(公告)日:2015-02-18

    申请号:CN201410546472.7

    申请日:2014-10-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于数字微反射镜的便携式高光谱重构器,包括:分光器,所述的分光器将进入系统的光按不同波长分光并输出;通道选择器,所述的通道选择器不同空间通道控制着不同波长汇聚光斑的传输,并可自由选择哪些通道的光斑能够进入后续系统;光汇聚器,所述的光汇聚器将不同通道的光斑汇聚成一个极小的光斑并输出。该重构器可预先利用标准光源和大型高精度谱仪对每个通道进行高精度光谱定标,然后结合实际测得的样品光谱曲线重构出突破系统自身光谱分辨极限的光谱数据,从而提升便携式光谱系统的光谱分辨能力。

    一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统

    公开(公告)号:CN104181110A

    公开(公告)日:2014-12-03

    申请号:CN201410403293.8

    申请日:2014-08-15

    Abstract: 本发明公开了一种基于显微镜的激光双调制光谱系统,它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现:根据激光双调制工作原理,将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光,低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光,然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面,单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处,通过电机控制对样品面进行二维扫描,获得相关光学信号。本发明实现了纳米量级区域的光谱探测,有效地消除了背景反射光的干扰,可以应用于微纳光学领域的光学特征光谱的测量。

    一种基于数字微反射镜的便携式高光谱重构器

    公开(公告)号:CN104359555B

    公开(公告)日:2016-03-30

    申请号:CN201410546472.7

    申请日:2014-10-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于数字微反射镜的便携式高光谱重构器,包括:分光器,所述的分光器将进入系统的光按不同波长分光并输出;通道选择器,所述的通道选择器不同空间通道控制着不同波长汇聚光斑的传输,并可自由选择哪些通道的光斑能够进入后续系统;光汇聚器,所述的光汇聚器将不同通道的光斑汇聚成一个极小的光斑并输出。该重构器可预先利用标准光源和大型高精度谱仪对每个通道进行高精度光谱定标,然后结合实际测得的样品光谱曲线重构出突破系统自身光谱分辨极限的光谱数据,从而提升便携式光谱系统的光谱分辨能力。

    基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统

    公开(公告)号:CN204086126U

    公开(公告)日:2015-01-07

    申请号:CN201420462978.5

    申请日:2014-08-15

    Abstract: 本专利公开了一种基于显微镜的激光双调制反射光谱检测系统,它包括一根单模光纤、一套成像放大系统、一个半透半反片、一套激光扩束系统、一个低频斩波器、一台激光器、一套显微镜系统和一个高频斩波器。纳米材料激光双调制反射光谱测量由以下部件实现:根据激光双调制工作原理,将高频斩波器调制后的白光源经过显微镜照明系统作为探测光,低频斩波器调制后的激光扩束后作为泵浦光,然后探测光和泵浦光经过同一显微物镜作用于样品表面,单模光纤作为视场光阑放置在二次放大像面处,通过电机控制对样品面进行二维扫描,获得相关光学信号。本专利实现了纳米量级区域的光谱探测,有效地消除了背景反射光的干扰,可以应用于微纳光学领域的光学特征光谱的测量。

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