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公开(公告)号:CN102176809A
公开(公告)日:2011-09-07
申请号:CN201110008839.6
申请日:2011-01-14
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于印制电路板上的贴片电阻与电容的调试器。该调试器由两个形状如S型结构的表面进行镀银或镀锡处理的锡青铜构件组成,所述的两个S型结构的锡青铜构件的材料厚度为0.3mm-0.6mm,底部有3-5度的倾角,左右对称焊接在印制电路板的一对称焊盘上。它可以很方便的实现电路板上贴片封装的电阻和电容的调试功能,避免在对贴片封装的电阻或电容进行反复更换调试过程中,耗费大量的焊接时间和造成电路板焊盘的损伤甚至脱落;不但节省了调试时间,也提高电路板使用的可靠性。
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公开(公告)号:CN101672694A
公开(公告)日:2010-03-17
申请号:CN200910197304.0
申请日:2009-10-16
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种棱镜分光短波红外成像光谱仪的光学系统。它采用离轴透镜来校正大视场像差,同时校正了狭缝弯曲和畸变,避免了采用大口径同心透镜,降低了大口径透镜获取难度和加工要求;采用一个色散棱镜来修正非线性色散,满足了光谱分辨率要求,在棱镜背面镀反射膜,光束直接从棱镜发生反射,取消了利特罗反射镜,简化了结构,减轻了重量;采用两个离轴非球面反射镜作为准直和会聚光学元件,通过调节离轴角和光谱仪的焦距控制了畸变,从而补偿了与波长相关的狭缝弯曲,并减小了残余像差。
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