公开(公告)号：CN112097903A

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：CN202010955985.9

申请日：2020-09-11

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 李浩 ,  耿荣鑫 ,  尤立星 ,  王镇 ,  谢晓明

IPC: G01J1/44 ,  G01J1/04 ,  B82Y15/00 ,  B82Y40/00

Abstract: 本发明属于光探测技术领域，涉及一种自对准超导纳米线单光子探测器件及其封装方法。所述自对准超导纳米线单光子探测器件，包括：超导纳米线单光子探测芯片；芯片固定件，所述芯片固定件中设有封装孔；其中，所述超导纳米线单光子探测芯片安装在所述封装孔中，光纤头插设于所述封装孔中，与所述超导纳米线单光子探测芯片的探测面相对，且所述光纤头的横截面形状与所述封装孔的横截面形状相同，所述光纤头出射的光子入射到所述探测面上。所述自对准超导纳米线单光子探测器件通过在芯片固定件中设置封装孔，将超导纳米线单光子探测芯片安装在封装孔中，将用于出光的光纤头插设在封装孔中，能够实现光纤头与超导纳米线单光子探测芯片的快速对准。

公开(公告)号：CN112082662A

公开(公告)日：2020-12-15

申请号：CN202010955982.5

申请日：2020-09-11

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 李浩 ,  耿荣鑫 ,  尤立星 ,  王镇 ,  谢晓明

IPC: G01J11/00 ,  B82Y15/00

Abstract: 本发明属于光探测技术领域，涉及一种检测超导纳米线单光子探测器件对准结果的方法、装置、设备及存储介质。所述方法包括：提供超导纳米线单光子探测器件，所述超导纳米线单光子探测器件包括探测芯片，所述探测芯片与入射光纤相对准；获取所述探测芯片的图像，所述图像包括所述探测芯片的探测面的中心和入射到所述探测面上的所述入射光纤的光斑；对所述图像进行处理，获取所述光斑的中心与所述探测面的中心之间的距离，以根据所述距离获取所述入射光纤与所述探测芯片的对准结果。本发明能够检测超导纳米线单光子探测器件的对准度，从而能够在一定程度上提高超导纳米线单光子探测器件的对准精度。