公开(公告)号：CN111781224A

公开(公告)日：2020-10-16

申请号：CN202010579140.4

申请日：2020-06-23

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 章辉 ,  李小宝 ,  汪威 ,  刘志

IPC: G01N23/2273 ,  G01N23/2204

Abstract: 本发明涉及一种近常压电子产额模式X射线吸收谱装置，包括：单色器、光强监测机构、光电子能谱装置和近常压气室，所述近常压气室内设置有用于放置待测样品的固定支撑结构，所述固定支撑结构连接有接地的第一电流检测装置；控制分析模块分别与单色器、光强监测机构、光电子能谱装置、第一电流检测装置和第二电流检测装置相连，用于控制单色器，并根据采集到的X射线单色入射光的光强度信号、第一出射光电子信号和第二出射光电子信号进行处理分析，并根据分析结果输出所需电子产额模式的X射线吸收谱图。本发明在不添加原位装置的情况下能探测接近真实情况的近常压条件下样品的状态。

公开(公告)号：CN111781224B

公开(公告)日：2021-07-09

申请号：CN202010579140.4

申请日：2020-06-23

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 章辉 ,  李小宝 ,  汪威 ,  刘志

IPC: G01N23/2273 ,  G01N23/2204

Abstract: 本发明涉及一种近常压电子产额模式X射线吸收谱装置，包括：单色器、光强监测机构、光电子能谱装置和近常压气室，所述近常压气室内设置有用于放置待测样品的固定支撑结构，所述固定支撑结构连接有接地的第一电流检测装置；控制分析模块分别与单色器、光强监测机构、光电子能谱装置、第一电流检测装置和第二电流检测装置相连，用于控制单色器，并根据采集到的X射线单色入射光的光强度信号、第一出射光电子信号和第二出射光电子信号进行处理分析，并根据分析结果输出所需电子产额模式的X射线吸收谱图。本发明在不添加原位装置的情况下能探测接近真实情况的近常压条件下样品的状态。