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公开(公告)号：CN118191694A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410435258.8
申请日：2024-04-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R33/12
Abstract: 本发明提供一种待测超导器件物性测试装置及测试方法，待测超导器件物性测试装置包括：上位机、源表、开关切换模块和N通道低通滤波阵列；其中N为大于1的自然数；上位机电连接源表的控制端和开关切换模块的控制端；上位机控制源表输出相应的激励信号范围，并控制开关切换模块选择对应工作通道；源表与开关切换模块电连接，开关切换模块通过N通道低通滤波阵列电连接到对应的测试端口；源表输出的激励信号范围传输至待测超导器件，待测超导器件反馈的测试信号传输至源表。本发明能够达到低电流输入测试，同时也可以实现低噪声，使得测试的精度进一步提高，提高低温测试效率；同时还极大减小了测试过程中低温的液氦和液氮等冷质的浪费，降低成本。
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