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公开(公告)号:CN114152902A
公开(公告)日:2022-03-08
申请号:CN202111467286.0
申请日:2021-12-03
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R33/035
Abstract: 本发明提供一种基于薄膜桥约瑟夫森结的SQUID探针及其使用方法,该结构包括:硅基底,硅基底的一端经过深硅刻蚀技术形成为针尖形状;器件探针端,包括形成在硅基底的针尖形状所在端上的一个第一SQUID;器件抵消端,包括形成在远离器件探针端的一个第二SQUID;第一反馈线圈及第二反馈线圈。SQUID探针结合深硅刻蚀技术将制备在硅基底上的器件探针端设置在硅基底的针尖形状所在端上,可精准控制第一SQUID与硅片尖端边缘的距离,从而提高SQUID与样品表面的磁耦合强度,并且在使用时可将SQUID探针结构与音叉共振结合实现精确的tip‑sample距离控制,从而大幅度提高硅基底上SQUID探针的空间分辨率;另外结合硅基底上集成的第一及第二反馈线圈可以实现探针的多功能测量。
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公开(公告)号:CN114152902B
公开(公告)日:2023-03-28
申请号:CN202111467286.0
申请日:2021-12-03
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R33/035
Abstract: 本发明提供一种基于薄膜桥约瑟夫森结的SQUID探针及其使用方法,该结构包括:硅基底,硅基底的一端经过深硅刻蚀技术形成为针尖形状;器件探针端,包括形成在硅基底的针尖形状所在端上的一个第一SQUID;器件抵消端,包括形成在远离器件探针端的一个第二SQUID;第一反馈线圈及第二反馈线圈。SQUID探针结合深硅刻蚀技术将制备在硅基底上的器件探针端设置在硅基底的针尖形状所在端上,可精准控制第一SQUID与硅片尖端边缘的距离,从而提高SQUID与样品表面的磁耦合强度,并且在使用时可将SQUID探针结构与音叉共振结合实现精确的tip‑sample距离控制,从而大幅度提高硅基底上SQUID探针的空间分辨率;另外结合硅基底上集成的第一及第二反馈线圈可以实现探针的多功能测量。
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