半导体激光准直耦合装置

    公开(公告)号:CN1644189A

    公开(公告)日:2005-07-27

    申请号:CN200510023470.0

    申请日:2005-01-20

    Abstract: 本发明涉及一种半导体激光准直耦合装置,包括底板以及安装于底板上的散热装置、多个半导体激光器、与半导体激光器相对应的准直镜头、多个光路转折元件、耦合透镜、光纤连接座,所述多个半导体激光器发出多路激光,其中一路激光经相应准直镜头准直后由耦合透镜汇聚入射外接光纤,其它各路激光分别经相应准直镜头准直后,再经光路转折元件转折离轴入射耦合透镜,由耦合透镜汇聚入射外接光纤。本发明能够将半导体激光器发出的多路激光很好地耦合进同一根光纤实现同轴输出,光路结构新颖、紧凑,光学元件少而经济,散热良好,光耦合效率高,用于眼底光动力治疗,可将治疗光与指示光耦合进同一根光纤同轴输出,应用方便、准确。

    激光参数综合测试系统

    公开(公告)号:CN101782435A

    公开(公告)日:2010-07-21

    申请号:CN201010122332.9

    申请日:2010-03-11

    Abstract: 一种激光参数综合测试系统,构成包括尖劈分光镜、凹球面反射镜、数字面阵CCD相机、硅光电二极管、光电探测器、能量探头、光谱仪、可调衰减器、步进电机及带有采集卡和控制卡的计算机,待测激光束入射到平面反射镜上,利用该平面反射镜的透射光测量激光束的单脉冲能量、脉冲宽度、重复频率和波长,尖劈分光镜将该平面反射镜的反射光分为两束,一束用来观察近场光斑,另一束用来测量激光束的M2因子、远场发散角、束腰直径和指向稳定性。本发明可对激光束单脉冲能量、波长、脉冲宽度、重复频率、M2因子及指向稳定性进行综合、准确、稳定的测量。

    激光线偏振光束变换成十字线光束的装置

    公开(公告)号:CN101833169A

    公开(公告)日:2010-09-15

    申请号:CN201010148116.1

    申请日:2010-04-15

    Abstract: 一种激光线偏振光束变换成十字线光束的装置,该装置的构成是:沿光束的前进方向依次是四分之一波片、第一偏振分光棱镜、水平放置的第一柱透镜、第二偏振分光棱镜,在所述的第一偏振分光棱镜的反射光束的前进方向设置第一转折镜、垂直放置的第二柱透镜、第二转折镜。本发明能够将激光器发出的线偏振光束变换成正交的十字线光束。而且具有二束正交线光束均匀性好、光束质量完全一致、光束利用率为100%和元器件装调容易的特点。

    激光参数综合测试系统

    公开(公告)号:CN101782435B

    公开(公告)日:2011-04-06

    申请号:CN201010122332.9

    申请日:2010-03-11

    Abstract: 一种激光参数综合测试系统,构成包括尖劈分光镜、凹球面反射镜、数字面阵CCD相机、硅光电二极管、光电探测器、能量探头、光谱仪、可调衰减器、步进电机及带有采集卡和控制卡的计算机,待测激光束入射到平面反射镜上,利用该平面反射镜的透射光测量激光束的单脉冲能量、脉冲宽度、重复频率和波长,尖劈分光镜将该平面反射镜的反射光分为两束,一束用来观察近场光斑,另一束用来测量激光束的M2因子、远场发散角、束腰直径和指向稳定性。本发明可对激光束单脉冲能量、波长、脉冲宽度、重复频率、M2因子及指向稳定性进行综合、准确、稳定的测量。

    半导体激光电源
    10.
    实用新型

    公开(公告)号:CN2770168Y

    公开(公告)日:2006-04-05

    申请号:CN200520039557.2

    申请日:2005-02-05

    Abstract: 本实用新型提供一种半导体激光电源,包括主控单片机、驱动电路、半导体激光器、温度控制电路、功率检测电路、光斑检测电路、输入输出接口电路及电平转换电路。其中主控单片机输出控制电压至驱动电路,驱动电路将该电压转换为稳定电流,驱动半导体激光器发出激光;功率检测电路用于将半导体激光器的激光输出功率转换为模拟电压信号并输入主控单片机,由主控单片机对此信号进行采样、量化和定标,获取激光输出功率;光斑检测电路用于将光斑大小信号转换为电压信号并输入主控单片机,由主控单片机对该信号进行采样、量化和定标,获取光斑大小。本实用新型结构简单,体积小,操作方便,电源的状态显示直观,可方便地与计算机通信。

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