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公开(公告)号：CN110186767A
公开(公告)日：2019-08-30
申请号：CN201910631080.3
申请日：2019-07-12
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本申请公开了一种高分子材料的表征装置，包括：机体；控制器；设置在所述机体上，用于输送高分子薄膜的输送机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对被输送的所述高分子薄膜进行光学性能检测的光学检测机构；设置在所述机体上，能够对被输送的所述高分子薄膜进行裁切的裁切机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对裁切得到的薄膜样品进行力学性能检测的力学检测机构。上述的表征装置，不仅实现了对高分子薄膜的高通量表征，而且还实现了对高分子薄膜多项性能的表征，能够显著的提升新材料的研发效率。
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公开(公告)号：CN110186767B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN201910631080.3
申请日：2019-07-12
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本申请公开了一种高分子材料的表征装置，包括：机体；控制器；设置在所述机体上，用于输送高分子薄膜的输送机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对被输送的所述高分子薄膜进行光学性能检测的光学检测机构；设置在所述机体上，能够对被输送的所述高分子薄膜进行裁切的裁切机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对裁切得到的薄膜样品进行力学性能检测的力学检测机构。上述的表征装置，不仅实现了对高分子薄膜的高通量表征，而且还实现了对高分子薄膜多项性能的表征，能够显著的提升新材料的研发效率。
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公开(公告)号：CN210465137U
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201921099663.8
申请日：2019-07-12
Applicant: 中国科学技术大学
Abstract: 本申请公开了一种高分子材料的表征装置，包括：机体；控制器；设置在所述机体上，用于输送高分子薄膜的输送机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对被输送的所述高分子薄膜进行光学性能检测的光学检测机构；设置在所述机体上，能够对被输送的所述高分子薄膜进行裁切的裁切机构；设置在所述机体上，并通过与所述控制器配合对裁切得到的薄膜样品进行力学性能检测的力学检测机构。上述的表征装置，不仅实现了对高分子薄膜的高通量表征，而且还实现了对高分子薄膜多项性能的表征，能够显著的提升新材料的研发效率。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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