一种简易的中高温半导体电导率测试装置

    公开(公告)号:CN203365553U

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201320449658.1

    申请日:2013-07-26

    Abstract: 本实用新型涉及一种简易的中高温半导体电导率测试装置,支撑刚玉管外吻合套装有双孔刚玉管,双孔刚玉管的一端固定设有硅橡胶塞,另一端连接有刚玉槽,接口处通过陶瓷胶固定封闭,刚玉槽内设有铂网,铂网之间固定设有半导体样品,铂网与双孔刚玉管之间设有顶压刚玉管;所述电流线与电压线通过双孔刚玉管后分别固定在铂网及半导体样品上,支撑刚玉管的前端通过进气管与储气瓶相连通;所述硅橡胶塞的外径尺寸与加热管的内径尺寸吻合,加热管的外围紧贴加热炉内壁,加热管的后部连接有排气管。该测试装置适用于小型实验室频繁的进行电导率测试,以及半导体处于不同气体环境中电导率的测试,测试精度高,结果准确,给科研工作带来了很大的便利。

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