公开(公告)号：CN108254079A

公开(公告)日：2018-07-06

申请号：CN201810062303.4

申请日：2018-01-23

Applicant: 中国矿业大学

Inventor： 辛成运 ,  刘忠鑫 ,  路朗

IPC: G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种双波长辐射测温装置及方法，该装置包括用于将待测物体的辐射光束聚焦于半透半反分光系统的光学镜头，半透半反分光系统包括用于将辐射光束分成透射光束和反射光束的半透半反分光片，收透射光束和反射光束通过传感器接收并生成的光辐射测量信号，数据采集分析单元及误差评估系统根据光辐射测量信号计算待测物体的温度数值，并对温度数值误差预测评估。该方法包括以下步骤：松驰逼近，求解修正的双波长温度；单色概率逼近，求解单色概率平均温度；平均化，将修正的双波长温度和单色概率平均温度取平均值。本发明可以在未知晓发射率行为条件下实现灰体表面或非灰表面温度的高精度测量，并且基于所测温度可以方便进行误差评估预测。

公开(公告)号：CN108254079B

公开(公告)日：2019-11-29

申请号：CN201810062303.4

申请日：2018-01-23

Applicant: 中国矿业大学

Inventor： 辛成运 ,  刘忠鑫 ,  路朗

IPC: G01J5/00

Abstract: 本发明公开了一种双波长辐射测温装置及方法，该装置包括用于将待测物体的辐射光束聚焦于半透半反分光系统的光学镜头，半透半反分光系统包括用于将辐射光束分成透射光束和反射光束的半透半反分光片，收透射光束和反射光束通过传感器接收并生成的光辐射测量信号，数据采集分析单元及误差评估系统根据光辐射测量信号计算待测物体的温度数值，并对温度数值误差预测评估。该方法包括以下步骤：松驰逼近，求解修正的双波长温度；单色概率逼近，求解单色概率平均温度；平均化，将修正的双波长温度和单色概率平均温度取平均值。本发明可以在未知晓发射率行为条件下实现灰体表面或非灰表面温度的高精度测量，并且基于所测温度可以方便进行误差评估预测。