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发明公开
致密基岩面孔率确定方法及装置无效

公开(公告)号：CN105136642A

公开(公告)日：2015-12-09

申请号：CN201510520519.7

申请日：2015-08-21

申请人： 中国石油天然气股份有限公司

发明人： 黄成刚 , 袁剑英 , 阎存凤 , 曹正林 , 吴丽荣 , 赵凡 , 席嘉文 , 李志明

IPC分类号： G01N15/08

摘要： 本发明公开了一种致密基岩面孔率确定方法及装置，该方法包括：获得致密基岩样品，样品的上表面镀有导电金属膜，下表面未镀有导电金属膜；采用导电胶布将样品固定于场发射扫描电镜的样品台上，样品的下表面接触样品台，上表面通过导电胶布与样品台连通导电；将样品台所在样品室抽真空，开启场发射扫描电镜的电子束开关，使激发电子轰击到样品的上表面，获得样品上表面的扫描电镜图像；根据微孔发育区与无孔隙致密区的导电差异性，确定扫描电镜图像中的微孔发育区；将扫描电镜图像中微孔发育区的面积占整个视域面积的百分比确定为样品的面孔率。本发明解决了致密基岩面孔率无法通过灌注有色环氧树脂来获取的难题，可实现准确确定致密基岩面孔率。