一种光片中有机显微组分定位装置、方法及光学显微镜

    公开(公告)号:CN118778235A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202310365367.2

    申请日:2023-04-07

    Abstract: 本发明涉及油气勘探技术领域,公开了一种光片中有机显微组分定位装置、方法及光学显微镜。光片中有机显微组分定位装置,伸缩杆的第一端连接在转换器接口的底部;推拉杆连接在每根伸缩杆的第二端;推拉杆用于推拉中启闭机械抓手。光片中有机显微组分定位方法,将油镜镜头转至光薄片的正上方;观察样品,找到目标有机质;将定位件固定在机械抓手上,并涂抹粘接剂;将定位装置转至光薄片的正上方;伸缩杆伸长,使定位件的下表面接触光薄片;释放定位件并粘接固定。上述实施例的技术方案,可通过定位件实现光学显微镜特定显微组分的定位标记。光片中有机显微组分定位装置的结构简易,操作方便,缩短了重新寻找同一显微组分的时间,提高了工作效率。

    一种适用于图像法测定镜质体反射率的制样装置及方法

    公开(公告)号:CN114062410A

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202010791052.0

    申请日:2020-08-07

    Abstract: 本发明公开了一种适用于图像法测定镜质体反射率的制样装置及方法,该装置包括:样品台,样品台的顶部设有样品槽,样品槽用于承载待测样品;多个标准样品槽,多个标准样品槽均匀布设于样品槽内;多个标准样品管,每个标准样品管插设在一个标准样品槽内,标准样品管用于容纳标准样品。本发明的适用于图像法测定镜质体反射率的制样装置通过将装有标准样品的标准样品管插设在样品槽的标准样品槽,待测试样品均匀铺设在样品槽上除去标准样品槽的区域,使得待测试样品均匀铺设在标准样品周围,实现了标准样品与待测试样品均匀分散制样,该装置装卸方便,标样可重复利用,方法简单且测试效率高效。

    一种自动磨片装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111823083A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN201910329018.9

    申请日:2019-04-23

    Abstract: 本发明公开了一种自动磨片装置,包括:旋转驱动模块,旋转驱动模块设有驱动轴;固定盘,固定盘与驱动轴连接,固定盘用于放置岩石样品;加压装置,加压装置与驱动轴连接,加压装置包括多个顶杆,顶杆用于从岩石样品的第一表面将岩石样品固定于固定盘内;多个调压模块,每个调压模块套接于一个顶杆外部,调压模块用于调节施加于岩石样品的第一表面的压力。本发明的自动磨片装置在批量磨制过程中通过调压模块,根据岩石样品的软硬硬度调节磨制压力,在一次加工过程中可对不同软硬程度的岩石样品同时进行批量磨制,提高抛磨工作效率和抛磨质量。

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