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公开(公告)号：CN118826922A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410909615.X
申请日：2024-07-08
Applicant: 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)
IPC: H04B17/345 , H04B17/309 , H04B17/391
Abstract: 本发明公开了一种电离层多路径传播优化下的短波干扰分析方法，包括如下步骤：步骤1，根据电离层传播模型获取电离层参数；步骤2，计算短波信号在多路径传播中的传输损耗；步骤3，提取短波信号中的干扰成分并进行干扰源定位；步骤4，通过统计分析和数据挖掘，分析干扰源及干扰路径的特征。本发明所公开的方法，根据电离层传播模型获取电离层参数，并结合电离层反射损耗模型，计算短波信号在多路径传播过程中的传输损耗。
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公开(公告)号：CN118915057A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410909626.8
申请日：2024-07-08
Applicant: 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)
Abstract: 本发明公开了一种基于多普勒频移测量的电离层密度分布探测方法，包括如下步骤：步骤1，接收电离层反射的信号；步骤2，放大和数字化电离层反射的信号；步骤3，计算电离层反射信号的多普勒频移；步骤4，计算电离层密度分布。本发明所公开的方法和装置，实现了对电离层密度分布的快速、准确测量。与传统的探空仪相比，该方法和装置成本低，效率高，测量结果的精度也得到了改善，可广泛应用于天气预报、电信、航空、导航等众多领域。
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公开(公告)号：CN118826903A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410909597.5
申请日：2024-07-08
Applicant: 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)
IPC: H04B17/00 , H04B17/391
Abstract: 本发明公开了一种电离层常规和异常状态下的短波信号传播衰减模型构建方法，包括如下步骤：步骤1，收集电离层常规状态下短波信号的传播衰减数据；步骤2，收集电离层异常状态下短波信号的传播衰减数据；步骤3，对收集到的数据进行分析，并建立电离层常规和异常状态下的衰减模型；步骤4，针对高速移动通信设备与电离层共存的场景，对模型进行优化和扩展。本发明所公开的方法，通过建立一种电离层常规和异常状态下的短波信号传播衰减模型，实现对电离层常规状态下短波通信的衰减情况进行准确预测；提供了对电离层异常状态下短波信号传播衰减的有效描述和建模方法。
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公开(公告)号：CN118802012A
公开(公告)日：2024-10-18
申请号：CN202410909623.4
申请日：2024-07-08
Applicant: 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)
Abstract: 本发明公开了一种电离层反射率调控下的短波干扰抑制方法，使用上述的装置，包括如下步骤：步骤1，天线子系统安装：步骤2，信号处理子系统处理：步骤3，电离层调控子系统处理。本发明所公开的装置及方法，为了进一步提高短波干扰抑制效果，引入了电离层反射率调控的概念。通过对电离层反射率进行实时调控，在一定程度上减少了干扰信号的传输损耗。
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