-
公开(公告)号：CN108055531A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201711446610.4
申请日：2017-12-27
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
IPC分类号： H04N17/00
CPC分类号： H04N17/002
摘要： 本发明公开了一种超多抽头CCD信号处理与采集装置，所述超多抽头CCD信号处理与采集装置由上位机、驱动模块、采样模块、图像采集控制模块和多个信号处理模块组成；本发明的有益技术效果是：提出了一种超多抽头CCD信号处理与采集装置，该方案可以大大简化电路结构，降低电路设计和制作的难度，降低制作成本，并且该方案能对接入的CCD信号数量作大规模扩展，能有效提高测试的效率和方便性。
-
公开(公告)号：CN103837781A
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201410110999.5
申请日：2014-03-24
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
IPC分类号： G01R31/00
摘要： 一种CCD测试装置，其特征在于：包括脉冲时序信号生成模块、CCD垂直时序驱动电路、高电平直流源和低电平直流源；所述脉冲时序信号生成模块中至少包含一用于人机对话的终端设备和一处理芯片，操作人员将预先设定的各种控制参量通过终端设备输入处理芯片内，处理芯片根据不同的控制参量生成对应的脉冲时序信号；在脉冲时序信号的控制作用下，CCD垂直时序驱动电路能对高电平直流源和低电平直流源进行分时选通处理，从而获得与脉冲时序信号对应的CCD驱动信号。本发明的有益技术效果是：一套测试电路就能满足不同类型的CCD的测试需要，降低了测试过程中的硬件消耗，避免了现有技术需要为不同类型CCD单独设计驱动电路的烦琐工作，间接地使得测试工作的效率也得到了提高。
-
公开(公告)号：CN107024612B
公开(公告)日：2019-05-21
申请号：CN201710282153.3
申请日：2017-04-26
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
IPC分类号： G01R19/00
摘要： 本发明公开了一种CCD器件漏电流测试装置的控制方法，具体的控制方法包括：所述CCD器件漏电流测试装置上电后，将待测试的CCD器件的管脚插接在CCD插接模块的插孔中，1）操作人员向上位机录入待测试的CCD器件的类型信息，上位机根据录入的CCD器件的类型信息加载相应的测试规则，然后以图表形式对多个继电器进行显示，然后待命；2）操作人员向上位机输入开始测试的命令后，上位机按测试规则向控制模块顺次输入多个测试步骤；每输入一次测试步骤后，上位机就对检测信号进行一次采样，然后再输入下一测试步骤；采样得到的检测信号的数值标记在所述图表上相应继电器的位置处；所有测试步骤都运行完毕后，测试操作结束。
-
公开(公告)号：CN103826074B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201410110710.X
申请日：2014-03-24
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
摘要： 一种CCD垂直时序驱动电路，由开关模块、稳压电路、功率幅度放大电路、高电平直流源和低电平直流源组成；所述功率幅度放大电路能对高电平直流源和低电平直流源中的一者进行处理并通过所述输出端向外输出；所述稳压电路能提供四路控制信号；所述开关模块能通过操作四路控制信号来控制功率幅度放大电路的动作。本发明的有益技术效果是：测试电路能根据不同的时序脉冲生成对应的CCD驱动信号，一套测试电路就能满足不同类型的CCD的测试需要，降低了测试过程中的硬件消耗，避免了现有技术需要为不同类型CCD单独设计驱动电路的烦琐工作，间接地使得测试工作的效率也得到了提高。
-
公开(公告)号：CN103402062A
公开(公告)日：2013-11-20
申请号：CN201310353387.4
申请日：2013-09-02
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
IPC分类号： H04N5/372
摘要： 一种CCD驱动时序生成方法，包括：由终端设备、处理芯片、CCD驱动电路和外围电路形成的CCD驱动时序生成装置；操作者通过终端设备将参量输入处理芯片，处理芯片控制外围电路生成脉冲时序，CCD驱动电路生成CCD驱动信号；参量类型有三种，即时间、电平状态和循环次数；处理芯片接收输入的时间时，保证多个时间之间维持刚性数学关系。本发明的有益技术效果是：提供了一种仅依赖一套硬件装置就能生成不同驱动时序的CCD驱动时序生成方法，以及由此方法所获得的装置，该方法简单、直观，不需要测试人员掌握复杂的程序语言和编译规则，通用性强，可满足任何CCD芯片的驱动时序设计、测试需要，所依赖的硬件设备复杂度较低，成本低廉。
-
公开(公告)号：CN107147855A
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201710330291.4
申请日：2017-05-11
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
摘要： 本发明公开了一种电平状态可调节的CCD垂直时序驱动电路，所述CCD垂直时序驱动电路由开关模块、稳压电路、功率幅度放大电路和电平可调直流源组成；所述电平可调直流源由两个运放电路、D/A模块、单片机和上位机组成；本发明的有益技术效果是：提出了一种电平状态可调节的CCD垂直时序驱动电路，测试操作时，测试人员只需对上位机进行操作，就能高效地为不同测试项目生成不同的控制信号。
-
公开(公告)号：CN107071310A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201710329660.8
申请日：2017-05-11
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
摘要： 本发明公开了一种用于对CCD图像传感器进行超长积分时间控制的方法，所涉及的硬件包括全帧转移CCD、控制电路、信号处理电路、图像采集装置、快门和上位机；所述方法包括：通过快门控制曝光时间，曝光过程中，全帧转移CCD的感光像元仅进行光积分操作，不向外读出信号，同时，水平转移区将内部暗信号持续向外读出；曝光结束后，感光像元将馈积到的信号在一个帧周期内向外读出，从而形成一帧完整的图像；本发明的有益技术效果是：提出了一种用于对CCD图像传感器进行超长积分时间控制的方法，采用该方法后，使得全帧转移CCD可以进行超长积分时间的光积分操作。
-
公开(公告)号：CN103402062B
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201310353387.4
申请日：2013-09-02
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
IPC分类号： H04N5/372
摘要： 一种CCD驱动时序生成方法，包括：由终端设备、处理芯片、CCD驱动电路和外围电路形成的CCD驱动时序生成装置；操作者通过终端设备将参量输入处理芯片，处理芯片控制外围电路生成脉冲时序，CCD驱动电路生成CCD驱动信号；参量类型有三种，即时间、电平状态和循环次数；处理芯片接收输入的时间时，保证多个时间之间维持刚性数学关系。本发明的有益技术效果是：提供了一种仅依赖一套硬件装置就能生成不同驱动时序的CCD驱动时序生成方法，以及由此方法所获得的装置，该方法简单、直观，不需要测试人员掌握复杂的程序语言和编译规则，通用性强，可满足任何CCD芯片的驱动时序设计、测试需要，所依赖的硬件设备复杂度较低，成本低廉。
-
-
公开(公告)号：CN107024612A
公开(公告)日：2017-08-08
申请号：CN201710282153.3
申请日：2017-04-26
申请人： 中国电子科技集团公司第四十四研究所
IPC分类号： G01R19/00
CPC分类号： G01R19/0092
摘要： 本发明公开了一种CCD器件漏电流测试装置的控制方法，具体的控制方法包括：所述CCD器件漏电流测试装置上电后，将待测试的CCD器件的管脚插接在CCD插接模块的插孔中，1）操作人员向上位机录入待测试的CCD器件的类型信息，上位机根据录入的CCD器件的类型信息加载相应的测试规则，然后以图表形式对多个继电器进行显示，然后待命；2）操作人员向上位机输入开始测试的命令后，上位机按测试规则向控制模块顺次输入多个测试步骤；每输入一次测试步骤后，上位机就对检测信号进行一次采样，然后再输入下一测试步骤；采样得到的检测信号的数值标记在所述图表上相应继电器的位置处；所有测试步骤都运行完毕后，测试操作结束。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
17 条记录 (耗时 0.027 秒)
