公开(公告)号：CN105547171B

公开(公告)日：2018-08-14

申请号：CN201510979500.9

申请日：2015-12-24

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 应承平 ,  王恒飞 ,  刘红元 ,  王洪超 ,  吴斌 ,  李国超 ,  姜斌 ,  霍明明 ,  张睿 ,  杨延召

IPC分类号： G01B11/08

摘要： 本发明提出了一种红外小光点光束特性测量装置，将红外成像器件固定在精密三维电控位移台上，通过三维位移台将红外成像器件光敏面调整到小光点的焦面上，控制位移台带动红外成像器件相对小光点进行扫描，记录正好横穿小光点某像元的输出电压，并绘出此像元信号输出和扫描位移对应关系曲线，由曲线求出红外小光点的光斑直径；进行另一垂直方向上的扫描，求得垂直方向上的光斑直径；根据两方向上的扫描曲线，绘出小光点光斑质量图形。本发明采用红外成像器件扫描法实现对红外小光点光斑直径的准确测量；对红外小光点扫描曲线的拟合模型采用二次和四次方函数混合拟合模型，克服了普通拟合方法在曲线顶部或底部存在较大偏差的缺陷，提高了拟合精度。

公开(公告)号：CN107063476A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201710391081.6

申请日：2017-05-27

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 姜斌 ,  吴斌 ,  杨延召 ,  王恒飞 ,  应承平

IPC分类号： G01J9/00

CPC分类号： G01J9/00

摘要： 本发明涉及一种测量太赫兹波长的装置及方法。其方法是太赫兹光源发出太赫兹光经过可调光阑的阑孔，变成一束太赫兹光，再经过硅棱镜，由于不同波长的太赫兹光在硅棱镜中的折射率不同，因此，不同波长的太赫兹光经过硅棱镜后从不同的位置出射，太赫兹探测器在一维位移台上，通过计算机控制，对不同位置出射的太赫兹光进行探测，记录探测到太赫兹光的位置，就可以计算出太赫兹波的波长，如果是一个波长段内连续的太赫兹光，通过两个极限位置的探测，可以得到连续波长的太赫兹波的波长段。它可以扫描一个波段的太赫兹波；制作方便，精确度高；测量速度快。

公开(公告)号：CN105628196A

公开(公告)日：2016-06-01

申请号：CN201510971032.0

申请日：2015-12-22

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所 ,  中国科学院合肥物质科学研究院

发明人： 王洪超 ,  应承平 ,  刘红元 ,  霍明明 ,  姜斌 ,  孟凡刚 ,  袁银麟 ,  戚涛 ,  丁蕾 ,  庞伟伟 ,  闫静 ,  李建军

IPC分类号： G01J1/42

CPC分类号： G01J1/429

摘要： 本发明提出了一种紫外焦平面阵列响应特性测量装置，包括：连续谱紫外积分球、单色LED积分球、激光导入积分球、扩束镜、标准探测器、二维平移台、固定平台、遮光暗箱、光源、激光稳功率系统、散热系统；连续谱紫外积分球、单色LED积分球、激光导入积分球的输出口通过遮光暗箱的开孔连接到遮光暗箱上；遮光暗箱内放置二维平移台和探测器的固定平台；光源1对应于连续谱紫外积分球，采用氘灯和紫外LED共同发光；光源2对应于单色LED积分球，采用单色紫外LED发光；激光导入积分球采用紫外激光器光源，并通过激光功率稳定系统后进入到激光导入积分球中。

公开(公告)号：CN107203054B

公开(公告)日：2020-04-03

申请号：CN201710388165.4

申请日：2017-05-27

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 姜斌 ,  吴斌 ,  杨延召 ,  王恒飞 ,  应承平

IPC分类号： G02F1/01

摘要： 本发明提供一种太赫兹可变衰减器，由数片基于砷化镓材料的薄片排列而成，薄片的数量可以根据需要增加或者减少。太赫兹光源发出的太赫兹光经过砷化镓材料的薄片可以衰减并到太赫兹探测器中，太赫兹探测器可以计算的太赫兹功率。每片砷化镓材料薄片作为衰减片都很薄并且厚度相同，这样就可以保证每片薄片作为衰减片对太赫兹波的衰减量是相同的，并且多片砷化镓材料的薄片作为衰减片不会产生法布里‑玻罗效应，影响最后的太赫兹衰减量。带有凹槽的底座可以使太赫兹波按相同的方向经过砷化镓材料的薄片作为衰减片，从而保证最后的衰减量是每片衰减量的和。采用上述方案，方法设计的太赫兹可变衰减器，使用方便，对放置角度要求低，精度高。

公开(公告)号：CN106769997A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201610998170.2

申请日：2016-11-14

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 姜斌 ,  吴斌 ,  应承平 ,  刘红元 ,  王恒飞

IPC分类号： G01N21/3586

CPC分类号： G01N21/3586

摘要： 本发明涉及太赫兹波成像领域，具体涉及一种太赫兹扫描成像装置，包括一个太赫兹激光光源、三个太赫兹会聚透镜、一个分束镜、两个太赫兹光电探测器和计算机；太赫兹光源发射的太赫兹光经过第一太赫兹会聚透镜、样品、分束镜、第二太赫兹会聚透镜、第一太赫兹探测器采集样品产生的反射数据，透射过样品的太赫兹光，经过第三太赫兹会聚透镜、第二太赫兹探测器采集样品产生的透射数据，并得出样品的太赫兹反射图像和透射图像。本发明可以对样品一次扫描成像，同时生成反射和透射图像，并可根据对应的透射与反射值，计算出样品的吸收图像。

公开(公告)号：CN107063476B

公开(公告)日：2019-05-17

申请号：CN201710391081.6

申请日：2017-05-27

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 姜斌 ,  吴斌 ,  杨延召 ,  王恒飞 ,  应承平

IPC分类号： G01J9/00

摘要： 本发明涉及一种测量太赫兹波长的装置及方法。其方法是太赫兹光源发出太赫兹光经过可调光阑的阑孔，变成一束太赫兹光，再经过硅棱镜，由于不同波长的太赫兹光在硅棱镜中的折射率不同，因此，不同波长的太赫兹光经过硅棱镜后从不同的位置出射，太赫兹探测器在一维位移台上，通过计算机控制，对不同位置出射的太赫兹光进行探测，记录探测到太赫兹光的位置，就可以计算出太赫兹波的波长，如果是一个波长段内连续的太赫兹光，通过两个极限位置的探测，可以得到连续波长的太赫兹波的波长段。它可以扫描一个波段的太赫兹波；制作方便，精确度高；测量速度快。

公开(公告)号：CN107203054A

公开(公告)日：2017-09-26

申请号：CN201710388165.4

申请日：2017-05-27

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 姜斌 ,  吴斌 ,  杨延召 ,  王恒飞 ,  应承平

IPC分类号： G02F1/01

摘要： 本发明提供一种太赫兹可变衰减器，由数片基于砷化镓材料的薄片排列而成，薄片的数量可以根据需要增加或者减少。太赫兹光源发出的太赫兹光经过砷化镓材料的薄片可以衰减并到太赫兹探测器中，太赫兹探测器可以计算的太赫兹功率。每片砷化镓材料薄片作为衰减片都很薄并且厚度相同，这样就可以保证每片薄片作为衰减片对太赫兹波的衰减量是相同的，并且多片砷化镓材料的薄片作为衰减片不会产生法布里‑玻罗效应，影响最后的太赫兹衰减量。带有凹槽的底座可以使太赫兹波按相同的方向经过砷化镓材料的薄片作为衰减片，从而保证最后的衰减量是每片衰减量的和。采用上述方案，方法设计的太赫兹可变衰减器，使用方便，对放置角度要求低，精度高。

公开(公告)号：CN106442389A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610768161.4

申请日：2016-08-22

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 吴斌 ,  杨延召 ,  李国超 ,  王恒飞 ,  应承平 ,  姜斌 ,  张鹏

IPC分类号： G01N21/3581

摘要： 本发明涉及一种多功能太赫兹光谱和成像测量模块，包括模块底座顶面上设置的两个固定于同一旋转中轴的电控可旋转机械臂，侧面设置的模块供电和控制接口，固定在电控可旋转机械臂上的太赫兹发射光电导天线和太赫兹接收光电导天线，固定在电控可旋转机械臂的旋转中轴上的电控水平移动导轨和电控竖直移动导轨，以及设置在电控水平移动导轨和电控竖直移动导轨共同组成的电控二维位移台中间的样品夹持装置。本发明还涉及了该多功能太赫兹光谱和成像测量模块的透射测量方法和反射测量方法。本发明提出的多功能太赫兹光谱和成像测量模块功能全面、控制方便、测试效率高、结构紧凑、易于在常用太赫兹光谱系统中进行集成。

公开(公告)号：CN106291948A

公开(公告)日：2017-01-04

申请号：CN201610768533.3

申请日：2016-08-22

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 姜斌 ,  吴斌 ,  李国超 ,  杨延召 ,  张鹏 ,  王恒飞 ,  应承平

IPC分类号： G02B27/09

CPC分类号： G02B27/0955

摘要： 本发明涉及一种太赫兹光束优化的装置，包括调节焦距的变焦组合；扩束准直镜，设于所述变焦组合的光路后方；傅里叶变换透镜，设于所述扩束准直镜的光路后方；光阑孔，设于所述傅里叶变换透镜的光路后方；傅里叶逆变换透镜，设于所述光阑孔的光路后方。本发明根据太赫兹激光波长与光阑孔尺寸相近的特点，充分考虑到衍射作用对太赫兹光束质量的影响，通过距离可调的透镜和大小可调的光阑实现准直扩束和空间滤波得到高质量的光束，光斑形状规则，且可以通过调节本发明装置，控制出射光斑的大小，可实现太赫兹波段内多频点的太赫兹光束优化，为太赫兹重大工程的顺利开展和太赫兹器件及设备的研制提供有力保障。

公开(公告)号：CN106442336A

公开(公告)日：2017-02-22

申请号：CN201610768509.X

申请日：2016-08-22

申请人： 中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 李国超 ,  吴斌 ,  王恒飞 ,  应承平 ,  杨延召 ,  姜斌

IPC分类号： G01N21/21 ,  G01M11/02

CPC分类号： G01N21/21 ,  G01M11/00

摘要： 本发明提供一种基于光谱分析的偏振特性测试方法，待测信号光通过λ/4延迟波片、起偏器进入偏振分析模块，根据实际测试需求设置合适的波长间隔；控制λ/4延迟波片同方向转动多次，在与初始位置的角度差逐渐增大至180°时停止；λ/4延迟波片在若干次转动完成后，记录光谱分析模块的光谱测试结果；λ/4延迟波片在完成多次转动后，利用记录的光谱测试数据结合λ/4延迟波片的波长相关延迟量、转动角度，计算得到待测信号光中每个波长点的斯托克斯矢量；旋转起偏器并重复以上步骤，计算得到物质在宽波段范围内多波长点的琼斯矩阵。本发明能够有效克服光学介质色散因素的影响，在一次独立测量中能够实现对信号光中的多波长点多偏振态进行分析测试。