公开(公告)号：CN115097228A

公开(公告)日：2022-09-23

申请号：CN202210164489.0

申请日：2022-02-22

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 韩静文 ,  孙磊磊 ,  吴立丰 ,  李军凯 ,  袁彪 ,  庞克俭 ,  刘丙凯 ,  杨国喆 ,  蔺泽宇 ,  王二超 ,  刘瑞丰 ,  郝晨阳 ,  张栋 ,  赵真

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/26 ,  B65G47/74

Abstract: 本发明提供了一种高低温自动测试系统，属于高低温测试技术领域，包括高低温测试单元和自动上下料单元；高低温测试单元包括烘箱、设于烘箱内的测试夹具以及多维取放机构，多维取放机构用于将送入烘箱内料盘上的待测产品移动至测试夹具进行测试，并将测试后的产品取回至料盘上；烘箱的侧面设有供料盘进入的进料门；自动上下料单元包括上下料机构、物料传输机构、进料机构及进料门自动打开机构；上下料机构将料盘送入物料传输机构，进料门自动打开机构将进料门打开，进料机构将料盘经进料门送入烘箱；测试后的产品料盘经进料机构、物料传输机构返回至上下料机构，下料取走。本发明提供的高低温自动测试系统，自动化程度高，测试效率高，测试精度高。

公开(公告)号：CN118455105A

公开(公告)日：2024-08-09

申请号：CN202410758407.4

申请日：2024-06-13

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 刘瑞丰 ,  袁彪 ,  郝晓博 ,  李晓光 ,  李占鹏 ,  杨国喆 ,  吴立丰 ,  孙磊磊 ,  刘丙凯 ,  蔺泽宇 ,  庞克俭 ,  戎雄飞 ,  李军凯 ,  左国森

IPC: B07C5/02 ,  B07C5/344 ,  B07C5/36

Abstract: 本发明提供了一种用于芯片分选机的摆臂推料器组合装置，属于芯片分选技术领域，包括：机架、两轴移动机构、顶升推料机构以及升降驱动机构；两轴移动机构设置于所述机架的底板上，具有纵向和横向两个方向的移动自由度；顶升推料机构可随所述两轴移动机构纵横移动，并驱动顶针器上下移动；旋转摆动机构固定于所述机架上，以驱动摆臂在预设角度内摆动；升降驱动机构与旋转摆动机构关联，以驱动摆臂上下运动；摆臂的悬置端设置有吸嘴；吸嘴在所述旋转摆动机构及升降驱动机构的带动下，摘取所述顶针器上的芯片。本发明通过顶升推料机构和旋转摆动机构上下配合调整的组合方式，能够减小摆臂的转动惯量，提高摆臂的稳定性与速度，能够避免对芯片的损坏。