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公开(公告)号：CN110646092A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201911079594.9
申请日：2019-11-07
申请人： 中国电子科技集团公司第三十四研究所
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本发明公开了一种对相位调制激光光谱展宽状态探测的装置及探测方法，所述装置包括顺序连接的光滤波器、高速光电探测器、高通滤波器和功率探测器，其中，光滤波器输入端外接相位调制激光、输出端与高速光电探测器连接，高速光电探测器的电信号输出端与高通滤波器连接，高通滤波器的输出端与功率探测器连接，所述方法包括：时域调制、高通滤波、功率探测过程。这种装置成本低、结构简单、紧凑，便于集成。这种方法操作简单、可评估衡量窄于0.1nm的光谱宽度、能有效判断光谱展宽状态，对高功率激光系统的安全防护有重要意义。
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公开(公告)号：CN110646092B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN201911079594.9
申请日：2019-11-07
申请人： 中国电子科技集团公司第三十四研究所
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本发明公开了一种对相位调制激光光谱展宽状态探测的装置及探测方法，所述装置包括顺序连接的光滤波器、高速光电探测器、高通滤波器和功率探测器，其中，光滤波器输入端外接相位调制激光、输出端与高速光电探测器连接，高速光电探测器的电信号输出端与高通滤波器连接，高通滤波器的输出端与功率探测器连接，所述方法包括：时域调制、高通滤波、功率探测过程。这种装置成本低、结构简单、紧凑，便于集成。这种方法操作简单、可评估衡量窄于0.1nm的光谱宽度、能有效判断光谱展宽状态，对高功率激光系统的安全防护有重要意义。
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公开(公告)号：CN113654654B
公开(公告)日：2023-06-20
申请号：CN202110928579.8
申请日：2021-08-13
申请人： 中国电子科技集团公司第三十四研究所
摘要： 本发明公开了一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法，所述装置包括顺序连接的保偏器件第一光纤耦合器1、相位调制器、第二光纤耦合器2、第三光纤耦合器3、高速光电探测器、高通滤波器、功率探测器和比较器，其中单频激光注入进第一光纤耦合器1，射频信号注入相位调制器，高速光电探测器接收第三光纤耦合器3的激光，经光电转换，经过高通滤波器进行滤波，随后到达功率探测器，功率探测器依据注入电信号的功率输出对应电平到比较器，比较器将该电平与参考电平进行判断，输出展宽状态判断电平。这种装置结构简单、成本低、便于集成，这种方法操作方便，实用性好，能满足高功率激光系统对窄带光谱检测的需求。
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公开(公告)号：CN113654654A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110928579.8
申请日：2021-08-13
申请人： 中国电子科技集团公司第三十四研究所
摘要： 本发明公开了一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法，所述装置包括顺序连接的保偏器件第一光纤耦合器1、相位调制器、第二光纤耦合器2、第三光纤耦合器3、高速光电探测器、高通滤波器、功率探测器和比较器，其中单频激光注入进第一光纤耦合器1，射频信号注入相位调制器，高速光电探测器接收第三光纤耦合器3的激光，经光电转换，经过高通滤波器进行滤波，随后到达功率探测器，功率探测器依据注入电信号的功率输出对应电平到比较器，比较器将该电平与参考电平进行判断，输出展宽状态判断电平。这种装置结构简单、成本低、便于集成，这种方法操作方便，实用性好，能满足高功率激光系统对窄带光谱检测的需求。
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公开(公告)号：CN210513420U
公开(公告)日：2020-05-12
申请号：CN201921906446.5
申请日：2019-11-07
申请人： 中国电子科技集团公司第三十四研究所
IPC分类号： G01J3/28
摘要： 本实用新型公开了一种对相位调制激光光谱展宽状态探测的装置，所述装置包括顺序连接的光滤波器、高速光电探测器、高通滤波器和功率探测器，其中，光滤波器输入端外接相位调制激光、输出端与高速光电探测器连接，高速光电探测器的电信号输出端与高通滤波器连接，高通滤波器的输出端与功率探测器连接。这种装置成本低、结构简单、紧凑，便于集成。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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