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公开(公告)号：CN113391254B
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202110549402.7
申请日：2021-05-20
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及微波毫米波在片散射参数测试及校准装置技术领域，特别涉及一种高低温在片散射系数校准件及其制造方法。本发明的校准件包括衬底，在衬底上表面设有一个直通标准件、一对反射标准件和至少一个传输线标准件，在衬底下表面设有背面金属层。所述衬底材料为近零温度系数的低损耗介质材料。本发明提供的校准件能够在低温‑55℃至高温125℃的温度范围内的任意温度下保证校准后的在片散射参数保持准确。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113391254A
公开(公告)日：2021-09-14
申请号：CN202110549402.7
申请日：2021-05-20
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及微波毫米波在片散射参数测试及校准装置技术领域，特别涉及一种高低温在片散射系数校准件及其制造方法。本发明的校准件包括衬底，在衬底上表面设有一个直通标准件、一对反射标准件和至少一个传输线标准件，在衬底下表面设有背面金属层。所述衬底材料为近零温度系数的低损耗介质材料。本发明提供的校准件能够在低温‑55℃至高温125℃的温度范围内的任意温度下保证校准后的在片散射参数保持准确。
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公开(公告)号：CN107132420B
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201710220506.7
申请日：2017-04-06
Applicant: 中国电子技术标准化研究院 , 北京赛西科技发展有限责任公司
IPC: G01R27/26
Abstract: 本发明公开了一种低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统及方法，属于微波测试技术领域。所述低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统包括网络分析仪、专用测试夹具和同轴电缆，所述专用测试夹具包括上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔，所述上半封闭谐振腔与下半封闭谐振腔之间设置有样品架，所述样品架的上方中部设置有用于放置被测样品的第一盲孔，所述上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔上均设置有耦合探针，所述耦合探针通过所述同轴电缆与网络分析仪连接。本发明对被测样品不会造成损伤或损失，并且结构简单、操作方便、测试效率高和测试准确度高。
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公开(公告)号：CN107132420A
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201710220506.7
申请日：2017-04-06
Applicant: 中国电子技术标准化研究院 , 北京赛西科技发展有限责任公司
IPC: G01R27/26
CPC classification number: G01R27/2623
Abstract: 本发明公开了一种低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统及方法，属于微波测试技术领域。所述低损耗介质粉末或液体的微波复介电常数测试系统包括网络分析仪、专用测试夹具和同轴电缆，所述专用测试夹具包括上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔，所述上半封闭谐振腔与下半封闭谐振腔之间设置有样品架，所述样品架的上方中部设置有用于放置被测样品的第一盲孔，所述上半封闭谐振腔和下半封闭谐振腔上均设置有耦合探针，所述耦合探针通过所述同轴电缆与网络分析仪连接。本发明对被测样品不会造成损伤或损失，并且结构简单、操作方便、测试效率高和测试准确度高。
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公开(公告)号：CN215494077U
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202121082118.5
申请日：2021-05-20
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本实用新型涉及微波毫米波在片散射参数测试及校准装置技术领域，特别涉及一种高低温在片散射系数校准件。该高低温在片散射系数校准件包括衬底，所述衬底上表面设有一个直通标准件、一对反射标准件和2个传输线标准件；在所述衬底下表面设有背面金属层；直通标准件、反射标准件和传输线标准件中均包括地压点和中心导带；地压点通过贯穿衬底的接地柱与所述背面金属层连接。所述衬底材料为近零温度系数的低损耗介质材料。本实用新型提供的校准件能够在低温‑55℃至高温125℃的温度范围内的任意温度下保证校准后的在片散射参数保持准确。
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公开(公告)号：CN206670811U
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201720353121.3
申请日：2017-04-06
Applicant: 中国电子技术标准化研究院 , 北京赛西科技发展有限责任公司
Abstract: 本实用新型公开了一种微波介质陶瓷的频率温度系数的测试装置及测试系统，涉及微波测试技术领域。所述测试装置包括水槽，所述水槽内设置有谐振腔支架和设置于所述谐振腔支架上方的谐振腔，所述谐振腔内设置有用于放置被测样品的介质支撑柱，所述谐振腔内设置有用于测量被测样品温度的测温装置。本实用新型既能够确保被测微波介质陶瓷的频率温度系数的准确性，又能降低其成本。
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