-
公开(公告)号:CN117667735B
公开(公告)日:2024-06-11
申请号:CN202311735443.0
申请日:2023-12-18
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明实施例公开了一种图像增强软件响应时间校准装置及方法,涉及电子信息技术领域。所述校准装置包括用于运行被校准的图像增强软件的运行处理平台,所述运行处理平台连接有显示设备和高速相机。所述校准方法包括:软件行为监控;响应时间测量;测量结果修正。本发明实施例能够对图像增强软件响应时间进行校准,使其测量结果不依赖于计算机时间,并可以溯源到国家时间基准,能够有效保障图像增强软件响应时间测量结果的准确可靠,对于促进我国软件产业的高质量发展具有重要意义。
-
公开(公告)号:CN117453505A
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311416593.5
申请日:2023-10-30
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G06F11/34
Abstract: 本发明实施例公开了一种软件性能测试工具时间参数校准装置及方法,涉及软件测试技术领域。所述软件性能测试工具时间参数校准装置包括用于为软件性能测试工具提供运行平台的校准工控机和与所述校准工控机相连接用于运行软件的服务器,其中:所述校准工控机上设有实时操作系统和用于植入所述软件性能测试工具的探针插件,所述校准工控机上设有PCIE接口,所述PCIE接口连接有应激计时模块,所述应激计时模块连接有授时模块和/或原子钟模块。本发明实施例能够对软件性能测试工具时间参数进行校准,从而保障软件时间特性参数测量结果的准确可靠,进一步促进软件产业的高质量发展,提升装备系统性能。
-
公开(公告)号:CN119509714A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202411413367.6
申请日:2024-10-11
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01J5/90
Abstract: 本发明涉及光电检测技术领域,尤其涉及一种以暗电流为退化量的短波红外焦平面探测器寿命评估方法,包括:将多个短波红外焦平面探测器分成多组样品,置于试验箱中;进行样品在正常工作状态下的高温条件的带电老化测试;带电老化测试过程中,按周期时间间隔持续采集样品的多帧图像数据;增大积分时间,并以积分时间作为横坐标,以图像数据的灰度值作为纵坐标,拟合得到暗信号;并通过电路增益常数将暗信号转化为暗电流;以暗电流相对初始值的变化量判断样品的失效时间获得样品在高温时的失效寿命,建立自适应加速模型计算正常工作温度下该样品的使用寿命。本发明可以批量测量短波红外器件的暗电流,测量结果精确,成本低。
-
公开(公告)号:CN117667735A
公开(公告)日:2024-03-08
申请号:CN202311735443.0
申请日:2023-12-18
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明实施例公开了一种图像增强软件响应时间校准装置及方法,涉及电子信息技术领域。所述校准装置包括用于运行被校准的图像增强软件的运行处理平台,所述运行处理平台连接有显示设备和高速相机。所述校准方法包括:软件行为监控;响应时间测量;测量结果修正。本发明实施例能够对图像增强软件响应时间进行校准,使其测量结果不依赖于计算机时间,并可以溯源到国家时间基准,能够有效保障图像增强软件响应时间测量结果的准确可靠,对于促进我国软件产业的高质量发展具有重要意义。
-
公开(公告)号:CN115147700B
公开(公告)日:2023-05-09
申请号:CN202210724441.0
申请日:2022-06-23
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G06V10/98 , G06V10/774
Abstract: 本发明的实施例公开了一种图像识别系统目标识别率参数校准方法、装置、电子设备及存储介质,涉及图像识别技术领域,能够对图像识别系统的性能进行统一科学的评价。所述图像识别系统目标识别率参数校准方法包括:从目标图像库中选择符合识别类型的目标图像,对目标图像进行处理,生成用于识别率测试的测试图像集;对生成的测试图像集,按照目标背景对比度指标进行划分,使每个测试图像集中的图像目标背景对比度指标处于一定范围内,形成测试图像子集,使识别测试在图像质量均匀的测试图像子集上进行;对识别测试的结果进行统计分析,得到测试的标准值和不确定度,通过比较测试值和标准值完成对测试结果的校准。
-
公开(公告)号:CN115147700A
公开(公告)日:2022-10-04
申请号:CN202210724441.0
申请日:2022-06-23
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G06V10/98 , G06V10/774
Abstract: 本发明的实施例公开了一种图像识别系统目标识别率参数校准方法、装置、电子设备及存储介质,涉及图像识别技术领域,能够对图像识别系统的性能进行统一科学的评价。所述图像识别系统目标识别率参数校准方法包括:从目标图像库中选择符合识别类型的目标图像,对目标图像进行处理,生成用于识别率测试的测试图像集;对生成的测试图像集,按照目标背景对比度指标进行划分,使每个测试图像集中的图像目标背景对比度指标处于一定范围内,形成测试图像子集,使识别测试在图像质量均匀的测试图像子集上进行;对识别测试的结果进行统计分析,得到测试的标准值和不确定度,通过比较测试值和标准值完成对测试结果的校准。
-
公开(公告)号:CN119511174A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202411634822.5
申请日:2024-11-15
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
Abstract: 本发明提出一种用于校准高功率大电流参数的测试系统及方法,属于电力电子元器件测试计量技术领域,系统包括:高功率大电流标准装置、标准电流传感器、高速数据采集单元。高功率大电流标准装置,为待测负载提供高功率大电流;标准电流传感器与高速数据采集单元用与标定高功率大电流标准装置的大电流。本发明实现了高功率大电流参数溯源,保障高功率大电流参数量值准确可靠。
-
公开(公告)号:CN115656756A
公开(公告)日:2023-01-31
申请号:CN202211286367.5
申请日:2022-10-20
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请提出一种用于双脉冲测试的可调负载电感及调整方法,所述可调负载电感包括:电感线圈以及可移动单元;在缠绕所述电感线圈的起始处设置起始端;在缠绕所述电感线圈的末尾处设置末尾端;若所述可移动单元为滑动触头,则在所述起始端与末尾端之间设置滑动触头,并且所述滑动触头与所述电感线圈外表面滑动接触。若所述可移动单元为磁芯,则在所述电感线圈的中间设置磁芯,所述起始端与末尾端之间组成可调负载电感,通过改变所述磁芯在电感线圈中间的插入深度来调整负载电感的电感值。本申请能够实现调整步长很小的连续可调,或者能够实现完全连续的调整,为双脉冲测试系统提供了更丰富的测试条件。
-
公开(公告)号:CN113325237A
公开(公告)日:2021-08-31
申请号:CN202110557461.9
申请日:2021-05-21
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明涉及电子测量领域,具体涉及一种射频阻抗测量方法。本发明方法包括以下步骤:测试信号产生、射频阻抗测量和测量结果修正。测试信号产生用于生成频率范围9kHz~3.6GHz,最大输出功率10dBm的射频信号;射频阻抗测量用于测量被测件的阻抗;测量结果修正用于测量电路中的残余参量,并对实际测量结果进行补偿修正。采用本方法可以实现频率范围9kHz~3.6GHz,阻抗模值范围1mΩ~100kΩ射频阻抗的准确测量,性能稳定且操作使用方便。
-
公开(公告)号:CN112578413A
公开(公告)日:2021-03-30
申请号:CN202011265246.3
申请日:2020-11-13
Applicant: 中国电子技术标准化研究院
IPC: G01S19/25
Abstract: 本发明公开的定时同步计时方法、装置通过设定定时时间,并实时接收授时时间,将定时时间与授时时间比对,直到二者相等时,获取当前的本地时间或者获取当前的授时时间作为基准时间开始计时,直至第一次触发信号触发下,获取当前的本地时间或者获取当前的授时时间作为第一时间,并将第一时间与基准时间作差得到计时时间,进而提高同步计时的精度,和准确计时的稳定性。此外,本发明提供的异地同步计时系统,通过采用至少两个定时同步计时装置安置在两个地点,分别记录目标事件的起始时间和结束时间;通过服务器将目标事件的结束时间和起始时间作差,得到目标事件的耗时时间,进而实现对发生在异地间的目标事件耗时统计,提高异地同步计时的精度。
-
-
-
-
-
-
-
-
-