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公开(公告)号：CN1172165C
公开(公告)日：2004-10-20
申请号：CN01133747.8
申请日：2001-12-27
Applicant: 中国测试技术研究院 , 中国石油西南油气田分公司天然气计量检测中心
Abstract: 一种便携式孔板自动测量仪，具有基座、孔板固定结构和测量机构，孔板固定结构、其特征是在基座上设置有旋转工作台和计算机接口，所述旋转工作台具有台面和底座，在基座与旋转工作台的底座之间设置有相互配合的Y向移动导向结构，所述基座具有位于旋转工作台上方的基座龙门架导轨，所述测量机构包括测量显微镜、X向光栅位移传感器和Z向光栅位移传感器，所述测量显微镜、X向光栅位移传感器和Z向光栅位移传感器均位于旋转工作台的上方，测量显微镜的底座、X向光栅位移传感器的底座和Z向光栅位移传感器的底座均套置在所述基座龙门架导轨上，X向光栅位移传感器的信号输出端和Z向光栅位移传感器的信号输出端均与计算机接口相连接。
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公开(公告)号：CN1354356A
公开(公告)日：2002-06-19
申请号：CN01133747.8
申请日：2001-12-27
Applicant: 中国测试技术研究院 , 中国石油西南油气田分公司天然气计量检测中心
Abstract: 一种便携式孔板自动测量仪,具有基座、孔板固定结构和测量机构,孔板固定结构、其特征是在基座上设置有旋转工作台和计算机接口,所述旋转工作台具有台面和底座,在基座与旋转工作台的底座之间设置有相互配合的Y向移动导向结构,所述基座具有位于旋转工作台上方的基座龙门架导轨,所述测量机构包括测量显微镜、X向光栅位移传感器和Z向光栅位移传感器,所述测量显微镜、X向光栅位移传感器和Z向光栅位移传感器均位于旋转工作台的上方,测量显微镜的底座、X向光栅位移传感器的底座和Z向光栅位移传感器的底座均套置在所述基座龙门架导轨上,X向光栅位移传感器的信号输出端和Z向光栅位移传感器的信号输出端均与计算机接口相连接。
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公开(公告)号：CN2539150Y
公开(公告)日：2003-03-05
申请号：CN01257044.3
申请日：2001-12-27
Applicant: 中国测试技术研究院 , 中国石油西南油气田分公司天然气计量检测中心
Abstract: 一种便携式孔板自动测量仪，具有基座、孔板固定结构和测量机构，孔板固定结构、其特征是在基座上设置有旋转工作台和计算机接口，所述旋转工作台具有台面和底座，在基座与旋转工作台的底座之间设置有相互配合的Y向移动导向结构，所述基座具有位于旋转工作台上方的基座龙门架导轨，所述测量机构包括测量显微镜、X向光栅位移传感器和Z向光栅位移传感器，所述测量显微镜、X向光栅位移传感器和Z向光栅位移传感器均位于旋转工作台的上方，测量显微镜的底座、X向光栅位移传感器的底座和Z向光栅位移传感器的底座均套置在所述基座龙门架导轨上，X向光栅位移传感器的信号输出端和Z向光栅位移传感器的信号输出端均与计算机接口相连接。
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公开(公告)号：CN117233126A
公开(公告)日：2023-12-15
申请号：CN202311205420.9
申请日：2023-09-18
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开一种背景纹影测量校准装置及方法，包括背景纹影设备和背景板，还包括实验仓，所述实验仓内对称设置有两独立的密度腔，所述背景纹影设备和背景板分别设置在密度腔的两端；两个密度腔均安装有密度检测仪，至少一个密度腔安装有压力控制阀，所述压力控制阀连接压力控制装置，所述密度检测仪、压力控制阀和压力控制装置连接控制箱，所述方法是利用背景纹影测量校准装置对背景纹影设备进行校准。本发明通过设置两个密度腔，一个用作对照，一个用作增压实验，一方面通过背景纹影设备计算出等效密度，另一方面通过设置密度监测仪对空气场密度进行实测，通过计算值和实测值对比，准确分析背景纹影设备的测量准确性和精度。
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公开(公告)号：CN112945867B
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202110148477.4
申请日：2021-02-03
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种反射式灰阶测试卡测量系统及方法，包括光源系统、准直系统、转角系统和接收器，所述准直系统为光轨，所述光源系统和样品架设置在光轨上，并在一条直线上，且光源系统与样品架之间设置有光阑；所述转角系统45/0几何测量条件的转角平台，用于控制测量壁和样品架旋转；所述接收器为安装在测量壁上的光谱分光辐射度计；在卤素灯周围加装平行光管做光源，采用双轴步进电机和基于PCI接口的微机机内置式PCI试验卡，实现45/0转角系统的自动控制；用已知标准值的标准白板做标准，用相对测量的方法，实现反射式光密度的无接触测量。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117330003A
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202311321216.3
申请日：2023-10-12
Applicant: 中国测试技术研究院
IPC: G01B21/02
Abstract: 本发明公开了一种轮式测距仪的校准方法，通过该方法能够对轮式测距仪的测量轮参数进行自动测量，有利于提高测量效率和测量精度；该方法包括以下步骤：启动轮式测距仪校准装置，并将轮式测距仪校准装置的控制系统复位，使控制系统工作在初始位置；调整底座上的夹持装置，将轮式测距仪通过夹持装置固定、初步调平；确定轮式测距仪的测量轮的几何中心在校准装置中水平方向的坐标位置；移动支撑机构和升降机构，使盘式测量机构移动到预设位置；对测量轮进行直径、径向跳动、轴向跳动、轴向窜动测量，以及对轮式测距仪的示值误差进行测量。
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公开(公告)号：CN118896640A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202411101066.X
申请日：2024-08-12
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种基于动态采集的云传感大数据校准修正方法及系统，属于云传感技术领域。该方法包括：对目标云传感站的传感器感知元件进行校准，并获取对应的相对不确定度；对目标云传感站系统进行校准，并获取对应的相对不确定度；对目标云传感站的量值传递进行本底修正，并获取对应的相对不确定度；对监测数据进行平滑修正，并获取对应的相对不确定度。利用所有相对不确定度计算云传感站单次测量的绝对不确定度。本发明中的校准和修正逐层递进，使得整个校准修正过程更具系统性并符合监测的规律和逻辑，从而确保了最终监测结果更加趋近于实际结果。并通过结果引起的相对不确定度来计算云传感站每个监测数据的绝对不确定度，具有非常有效的参考价值。
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公开(公告)号：CN117233126B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN202311205420.9
申请日：2023-09-18
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开一种背景纹影测量校准装置及方法，包括背景纹影设备和背景板，还包括实验仓，所述实验仓内对称设置有两独立的密度腔，所述背景纹影设备和背景板分别设置在密度腔的两端；两个密度腔均安装有密度检测仪，至少一个密度腔安装有压力控制阀，所述压力控制阀连接压力控制装置，所述密度检测仪、压力控制阀和压力控制装置连接控制箱，所述方法是利用背景纹影测量校准装置对背景纹影设备进行校准。本发明通过设置两个密度腔，一个用作对照，一个用作增压实验，一方面通过背景纹影设备计算出等效密度，另一方面通过设置密度监测仪对空气场密度进行实测，通过计算值和实测值对比，准确分析背景纹影设备的测量准确性和精度。
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公开(公告)号：CN116359130A
公开(公告)日：2023-06-30
申请号：CN202310236826.7
申请日：2023-03-13
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种光学计量检定用样品轮，包括支撑机构、旋转机构、平移机构和控制单元；支撑机构包括基座、样品轮支架和样品轮；样品轮支架底部固定于基座上，样品轮通过转轴设置于样品轮支架上方；样品轮的外缘设置多个样品室，样品室内设有样品固定装置；旋转机构包括步进电机，步进电机带动样品轮转动；平移机构包括液压装置和滑轨；液压装置的液压杆，一端铰接于基座上，另一端通过套管设置于转轴上，由控制单元控制其伸缩；套管和转轴之间装有轴承，轴承两端装有齿轮；滑轨底部嵌入样品轮支架顶部的水平滑槽内，顶部沿滑动方向设有与齿轮啮合的齿条。本发明能够避免人工更换样品对测量结果的影响，避免样品测量位置对测量结果的影响，工作效率高，测量数据准确。
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公开(公告)号：CN112945867A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110148477.4
申请日：2021-02-03
Applicant: 中国测试技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种反射式灰阶测试卡测量系统及方法，包括光源系统、准直系统、转角系统和接收器，所述准直系统为光轨，所述光源系统和样品架设置在光轨上，并在一条直线上，且光源系统与样品架之间设置有光阑；所述转角系统45/0几何测量条件的转角平台，用于控制测量壁和样品架旋转；所述接收器为安装在测量壁上的光谱分光辐射度计；在卤素灯周围加装平行光管做光源，采用双轴步进电机和基于PCI接口的微机机内置式PCI试验卡，实现45/0转角系统的自动控制；用已知标准值的标准白板做标准，用相对测量的方法，实现反射式光密度的无接触测量。
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