微通道板平面度的检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN109579748B

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN201811571970.1

    申请日:2018-12-21

    Abstract: 本发明是关于一种微通道板平面度的检测装置及检测方法。该检测装置包括:固定机构、图像采集机构、投影机构、光源和处理机构。使用该检测装置对微通道板平面度进行检测的方法,包括:将微通道板固定于所述固定机构上;打开光源,将所述投影机构正投影在所述微通道板的待测量平面上,形成第一投影和第二投影;通过所述图像采集机构采集所述第一投影和所述第二投影的图像,形成图像数据;将所述图像数据传输到所述处理机构,对所述图像数据进行处理,并与预存的数据库进行比较,获得微通道板平面度。本发明微通道板平面度的检测装置可实现自动检测,该自动检测方法的测量精度高。

    一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法

    公开(公告)号:CN110095263B

    公开(公告)日:2020-09-01

    申请号:CN201910347908.2

    申请日:2019-04-28

    Abstract: 本发明是关于一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其包括:S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件,使待测光纤传像元件的第一表面与测量模板紧密贴合;S2、在避光环境内,光源射出的光线依次经测量模板和待测光纤传像元件后,使测量模板上的第一区域和第二区域在待测光纤传像元件的第二表面形成图像;S3、采集所述图像,进行处理,得到所述图像上对应每个像素点的灰度值;S4、对所述灰度值进行归一化处理,得到任一位置点的归一化透过率值,并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。本发明方法能够直接反映被测产品的杂光串扰性能,有效提高检测结果的准确性和重复性。

    一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法

    公开(公告)号:CN110095263A

    公开(公告)日:2019-08-06

    申请号:CN201910347908.2

    申请日:2019-04-28

    Abstract: 本发明是关于一种光纤传像元件中光纤间光串扰性能的表征方法,其包括:S1、在测量模板两侧分别设置光源和待测光纤传像元件,使待测光纤传像元件的第一表面与测量模板紧密贴合;S2、在避光环境内,光源射出的光线依次经测量模板和待测光纤传像元件后,使测量模板上的第一区域和第二区域在待测光纤传像元件的第二表面形成图像;S3、采集所述图像,进行处理,得到所述图像上对应每个像素点的灰度值;S4、对所述灰度值进行归一化处理,得到任一位置点的归一化透过率值,并用得到的归一化透过率值来表征光纤传像元件上任一位置点的杂光串扰性能。本发明方法能够直接反映被测产品的杂光串扰性能,有效提高检测结果的准确性和重复性。

    微通道板平面度的检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN109579748A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201811571970.1

    申请日:2018-12-21

    Abstract: 本发明是关于一种微通道板平面度的检测装置及检测方法。该检测装置包括:固定机构、图像采集机构、投影机构、光源和处理机构。使用该检测装置对微通道板平面度进行检测的方法,包括:将微通道板固定于所述固定机构上;打开光源,将所述投影机构正投影在所述微通道板的待测量平面上,形成第一投影和第二投影;通过所述图像采集机构采集所述第一投影和所述第二投影的图像,形成图像数据;将所述图像数据传输到所述处理机构,对所述图像数据进行处理,并与预存的数据库进行比较,获得微通道板平面度。本发明微通道板平面度的检测装置可实现自动检测,该自动检测方法的测量精度高。

    检测装置
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208254385U

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201820977147.X

    申请日:2018-06-22

    Abstract: 本实用新型公开了一种检测装置,涉及检测技术领域,主要目的是用于检测待测柱形元件的多种检测数据,以提高检测效率。本实用新型的主要技术方案为:一种检测装置,包括:限位部,所述限位部上设有第一限位面和第二限位面,所述第一限位面为平面,所述第二限位面垂直于所述第一限位面,当待测柱形元件的圆柱面放置在第二限位面上时,所述待测柱形元件的端面能够抵顶在所述第一限位面上;检测表,所述检测表上设有检测探针,所述检测探针的端部用于抵顶在所述待测柱形元件上,所述检测表用于显示所述检测探针的收缩长度。本实用新型主要用于检测柱形元件的垂直度和椭圆度。

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