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公开(公告)号：CN108196173B
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN201810086606.X
申请日：2018-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: G01R31/12 , G05B19/042 , G05B19/05
Abstract: 本发明例提供了一种绝缘电阻测试装置及方法，涉及测试仪技术领域。装置包括：处理模块、与处理模块连接的PWM调制模块、以及与处理模块和PWM调制模块均连接的测试通道模块。PWM调制模块根据处理模块的PWM控制，则PWM调制模块将外部电源输入的直流信号升压获得高压直流信号，并将高压直流信号通过测试通道模块输出至外部的第一待测绝缘电阻，以实现对第一待测绝缘电阻的测试。而在需要切换测试通道时，则处理模块停止对PWM调制模块进行PWM控制，以使该PWM调制模块停止输出高压直流信号。此时，处理模块再控制测试通道模块与外部的第二待测绝缘电阻连接，从而避免了在高压环境下切换测试通道而产生电火花，进而也避免了电火花所带来的巨大安全隐患。
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公开(公告)号：CN107782208B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN201711169782.1
申请日：2017-11-22
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: F42C21/00
Abstract: 本发明提供了一种多套引信并行测试的全电子引信测试仪，该方案包括有单片机、AC‑DC模块、DC/DC模块、铁电存储器、复位电路、继电器、连接器、CPLD模块、AD模块、驱动电路和指示灯；单片机分别与DC/DC模块、铁电存储器、指示灯、复位电路、CPLD模块、继电器和AD模块电连接；AC‑DC模块与继电器和DC/DC模块电连接；连接器分别与继电器和AD模块电连接；CPLD模块分别与连接器、驱动电路和单片机电连接。该全电子引信测试仪在测试全电子引信时，对被测引信发出的供电信号为同时发出，检测完毕后被测引信依次快速放电，可以大大缩短检测时间。
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公开(公告)号：CN107726931B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN201711169756.9
申请日：2017-11-22
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: F42C21/00
Abstract: 本发明提供了一种参数可装订的全电子引信测试仪及其控制方法，该方案分别与微处理器电连接的电压转换模块、继电器、MOS管驱动器器、总线驱动器、电压匹配电阻、启动按键、铁电存储器、通信总线驱动模块和液晶屏；继电器、MOS管驱动器器、总线驱动器和电压匹配电阻均与第一连接器电连接；继电器和电压转换模块均与电源电连接；微处理器与第二连接器电连接；通信总线驱动模块与第二连接器电连接。该方案在其功能上能够满足现在引信数据装订的特殊要求，操作简单，只需通过键盘输入装订数据，测试仪便可自动完成所有的引信供电、解保控制、引信关键参数装订、测试结果判断和波形结果显示等。
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公开(公告)号：CN109115060A
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201811194820.3
申请日：2018-10-15
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
Abstract: 本发明提供了一种冲击片雷管可调通用型脉冲电流发生装置及其控制方法，该方案包括有输入模块，控制模块，高压输入模块，阻抗调节模块，触发模块，高压储能模块；输入模块与控制模块、高压输入模块、触发模块电连接；控制模块与阻抗模块电连接；触发模块、阻抗模块以及高压输入模块均与高压储能模块电连接；高压储能模块与输出结构电连接。该方案能够根据输入的参数输出一定范围内的脉冲电流，较为全面地覆盖冲击片雷管的工作范围，同时也能适用于不同型号的冲击片雷管。
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公开(公告)号：CN108879265A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810684149.4
申请日：2018-06-28
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: H01R31/06 , H01R27/00 , H01R13/512
Abstract: 本发明公开了一种电连接器可拆装的电缆，包括可拆卸电连接器、导线和固定电连接器；可拆卸电连接器包括至少两个插头、A外壳和B外壳；可拆卸电连接器的每个插头与固定电连接器之间均设置导线；插头通过A外壳和B外壳组装在一起形成可拆卸电连接器；A外壳和B外壳为可拆卸结构。本发明电缆一端采用可自由拆装电连接器，拆分后电缆可通过狭窄空间进行装配、更换，可适用于空间受限的应用场景；可拆装电连接器的设计简单，仅包含外壳A、外壳B、两颗螺钉和三个小插头，拆分、组装十分简便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108196173A
公开(公告)日：2018-06-22
申请号：CN201810086606.X
申请日：2018-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: G01R31/12 , G05B19/042 , G05B19/05
Abstract: 本发明例提供了一种绝缘电阻测试装置及方法，涉及测试仪技术领域。装置包括：处理模块、与处理模块连接的PWM调制模块、以及与处理模块和PWM调制模块均连接的测试通道模块。PWM调制模块根据处理模块的PWM控制，则PWM调制模块将外部电源输入的直流信号升压获得高压直流信号，并将高压直流信号通过测试通道模块输出至外部的第一待测绝缘电阻，以实现对第一待测绝缘电阻的测试。而在需要切换测试通道时，则处理模块停止对PWM调制模块进行PWM控制，以使该PWM调制模块停止输出高压直流信号。此时，处理模块再控制测试通道模块与外部的第二待测绝缘电阻连接，从而避免了在高压环境下切换测试通道而产生电火花，进而也避免了电火花所带来的巨大安全隐患。
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公开(公告)号：CN107764143A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201711169738.0
申请日：2017-11-22
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: F42C21/00
CPC classification number: F42C21/00
Abstract: 本发明提供了一种可进行高精度总线通信延时控制的全电子引信测试仪，该方案包括有单片机、FPGA模块、RS422驱动器、AC-DC模块、连接器、DC-DC模块和继电器；单片机分别与继电器、DC-DC模块、FPGA模块以及连接器电连接；FPGA模块与RS422驱动器电连接；继电器分别与AC-DC模块、连接器以及单片机电连接；连接器还与RS422驱动器电连接；AC-DC模块分别与DC-DC模块以及继电器电连接。该方案采用FPGA模块对RS422总线通信数据进行高精度延时控制，能够对需要RS422总线通信数据的高精度延时控制的引信进行测试。
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公开(公告)号：CN107726931A
公开(公告)日：2018-02-23
申请号：CN201711169756.9
申请日：2017-11-22
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: F42C21/00
CPC classification number: F42C21/00
Abstract: 本发明提供了一种参数可装订的全电子引信测试仪及其控制方法，该方案分别与微处理器电连接的电压转换模块、继电器、MOS管驱动器器、总线驱动器、电压匹配电阻、启动按键、铁电存储器、通信总线驱动模块和液晶屏；继电器、MOS管驱动器器、总线驱动器和电压匹配电阻均与第一连接器电连接；继电器和电压转换模块均与电源电连接；微处理器与第二连接器电连接；通信总线驱动模块与第二连接器电连接。该方案在其功能上能够满足现在引信数据装订的特殊要求，操作简单，只需通过键盘输入装订数据，测试仪便可自动完成所有的引信供电、解保控制、引信关键参数装订、测试结果判断和波形结果显示等。
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公开(公告)号：CN107677166A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201711169785.5
申请日：2017-11-22
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: F42C21/00
CPC classification number: F42C21/00
Abstract: 本发明提供了一种全电子触发引信测试仪及其测试方法，该方案包括有AC-DC电源、继电器、电压转换器、铁电存储器、晶振、复位电路、驱动电路、单片机、指示灯、CPLD、连接器；单片机与电压转换器、继电器、指示灯和CPLD电连接；AD-DC电源与电压转换器和继电器电连接；CPLD与驱动电路、单片机和连接器电连接；连接器与继电器电连接。该全电子触发引信测试仪能够发出最多8路触发信号，使得触发引信的触发信号处理组件得到检测，且保证给有多个传感器的触发引信提供其所需的触发状态的信号，使触发引信能够得到更全面的测试。
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公开(公告)号：CN108152594B
公开(公告)日：2024-04-19
申请号：CN201810086622.9
申请日：2018-01-29
Applicant: 中国工程物理研究院电子工程研究所
IPC: G01R27/08
Abstract: 本发明涉及一种恒流源测试仪，属于电子技术领域。恒流源测试仪包括：控制器、恒流源供电电路、电流测试电路、电压测试电路、连接器和显示屏。所述控制器分别与所述恒流源供电电路、所述电流测试电路、所述电压测试电路和所述显示屏连接，所述恒流源供电电路、所述电流测试电路和所述电压测试电路还均与所述连接器连接，所述连接器还用于与被测负载连接。该恒流源测试仪保证了在燃气或炸药贮存场合进行导通电阻测试时的高安全性，使得整个测试过程处于可监控的范围内，避免了因负载短路而引发安全的风险。
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