-
公开(公告)号：CN107870346A
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201711426316.7
申请日：2017-12-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 任宽 , 江少恩 , 曹柱荣 , 姚立 , 谢旭飞 , 余波 , 陈进文 , 王哲斌 , 王峰 , 胡智民 , 刘慎业 , 徐涛 , 赵阳 , 刘伟 , 杨志文 , 董建军 , 韦敏习 , 马波 , 黄天暄 , 张继彦 , 丁永坤
CPC classification number: G01T1/2978 , G01T1/1606
Abstract: 本发明公开了一种X射线强度准无损二维成像装置，所述的成像装置适用于50eV~80keV 的X射线，包括同轴心设置的可调光阑、辅助瞄准装置、X射线成像器件、支撑与调节机构、屏蔽筒与多重X射线成像板。经辅助瞄准装置对靶进行瞄准后，靶发出50eV~80keV的X射线，经X射线成像器件成像到多重X射线成像板上，通过对多重X射线成像板上的多重像进行数据提取、转换与叠加处理，即可还原强度准无损图像。本发明的成像装置能够实现50eV~80keV 的X射线强度准无损二维成像，将获得的X光像的信息量提升0%~85%，具有广阔且重要应用前景。
-
公开(公告)号：CN105158789B
公开(公告)日：2017-08-15
申请号：CN201510573723.5
申请日：2015-09-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01T1/29
Abstract: 本发明提供了一种空间分辨辐射流探测设备，所述的探测设备包括针孔透镜组件、摄像头、限孔成像板、限孔板和平响应X射线探测器F‑XRD；黑腔注入口发出可见光，透镜对其成像到限孔成像板上，确定该限孔和注入口的可见光像的位置关系后，黑腔注入口发出的X射线穿过针孔，仅有部分X射线经过限孔成像板和限孔板的限孔，到达平响应X射线探测器F‑XRD的灵敏面引起响应，这部分X射线能流对应于注入口内部分区域的辐射流，同时限孔成像板记录注入口通过针孔所成X光像与限孔之间的位置关系，实现空间分辨辐射流探测。本发明能够实现同时具有时间与空间分辨地X射线辐射流定量探测，不受激光打在黑腔注入口边沿产生的额外X射线影响，具有广阔应用前景。
-
公开(公告)号：CN105158789A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201510573723.5
申请日：2015-09-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01T1/29
Abstract: 本发明提供了一种空间分辨辐射流探测设备，所述的探测设备包括针孔透镜组件、摄像头、限孔成像板、限孔板和平响应X射线探测器F-XRD；黑腔注入口发出可见光，透镜对其成像到限孔成像板上，确定该限孔和注入口的可见光像的位置关系后，黑腔注入口发出的X射线穿过针孔，仅有部分X射线经过限孔成像板和限孔板的限孔，到达平响应X射线探测器F-XRD的灵敏面引起响应，这部分X射线能流对应于注入口内部分区域的辐射流，同时限孔成像板记录注入口通过针孔所成X光像与限孔之间的位置关系，实现空间分辨辐射流探测。本发明能够实现同时具有时间与空间分辨地X射线辐射流定量探测，不受激光打在黑腔注入口边沿产生的额外X射线影响，具有广阔应用前景。
-
公开(公告)号：CN107870346B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN201711426316.7
申请日：2017-12-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 任宽 , 江少恩 , 曹柱荣 , 姚立 , 谢旭飞 , 余波 , 陈进文 , 王哲斌 , 王峰 , 胡智民 , 刘慎业 , 徐涛 , 赵阳 , 刘伟 , 杨志文 , 董建军 , 韦敏习 , 马波 , 黄天暄 , 张继彦 , 丁永坤
Abstract: 本发明公开了一种X射线强度准无损二维成像装置，所述的成像装置适用于50eV~80keV的X射线，包括同轴心设置的可调光阑、辅助瞄准装置、X射线成像器件、支撑与调节机构、屏蔽筒与多重X射线成像板。经辅助瞄准装置对靶进行瞄准后，靶发出50eV~80keV的X射线，经X射线成像器件成像到多重X射线成像板上，通过对多重X射线成像板上的多重像进行数据提取、转换与叠加处理，即可还原强度准无损图像。本发明的成像装置能够实现50eV~80keV的X射线强度准无损二维成像，将获得的X光像的信息量提升0%~85%，具有广阔且重要应用前景。
-
公开(公告)号：CN109164077B
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201811032205.2
申请日：2018-09-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/64
Abstract: 本申请提供一种荧光成像方法及装置，用于解决现有技术中基于大型强激光装置的荧光成像技术中荧光信号强度弱的问题。所述荧光成像方法包括：将激光装置产生的多束激光打击在多个泵浦材料片上产生多个泵浦X光，所述多束激光中的每一束激光和所述多个泵浦材料片中的每一个泵浦材料片一一对应；所述多个泵浦X光均匀辐照掺杂荧光元素的样品，产生荧光信号，所述掺杂荧光元素的样品设置于与所述多个泵浦材料片相对应的中心位置；根据所述掺杂荧光元素的样品射出的荧光信号，获得荧光图像。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119716963A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202510230769.0
申请日：2025-02-28
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 任宽 , 任国利 , 刘杰 , 杜华冰 , 刘云婷 , 赵航 , 刘耀远 , 董建军 , 杨正华 , 郑建华 , 姚立 , 孙奥 , 邓克立 , 杨冬 , 李志超 , 吴玉迟 , 王峰
Abstract: 本发明公开一种ICF中黑腔壁反照率的原位测量方法、系统及计算机存储介质，包括：在ICF激光打靶实验中，采用两套空间分辨辐射流探测设备分别同时测量黑腔内壁上光斑区和再发射区的X射线辐射流；构建与在ICF激光打靶实验中使用的黑腔相同的黑腔模型；将测量得到的所述黑腔内壁上光斑区和再发射区的X射线辐射流以及朗伯体发射性质赋予所述黑腔模型内壁相应区域；在所述黑腔模型内，通过视角因子对所述黑腔模型的待测再发射区的入射X射线辐射流求和，得到所述黑腔模型的待测再发射区的入射辐射流；根据所述黑腔模型的待测再发射区的入射辐射流和测量得到的再发射区的X射线辐射流，得到黑腔壁反照率。本发明不改变黑腔结构，所测量反照率结果准确。
-
公开(公告)号：CN106707327B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN201710017153.0
申请日：2017-01-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 任宽 , 刘慎业 , 侯立飞 , 杜华冰 , 景龙飞 , 赵阳 , 杨志文 , 韦敏习 , 邓克立 , 姚立 , 詹夏宇 , 李晋 , 杨国洪 , 李三伟 , 江少恩 , 董建军 , 曹柱荣 , 丁永坤
IPC: G01T1/28
Abstract: 本发明提供了一种X射线成像器件的瞄准装置及其调校方法和应用方法，所述的瞄准装置包括X射线成像器件、瞄准透镜、可调光阑、支撑机构、四维调节机构和监视器，X射线成像器件位于瞄准透镜中心，且二者分别对靶的X光和可见光成像位置、大小相同；所述的调校方法：将装调用靶中心、X射线成像器件中心和探测器记录面中心放到直线Ⅰ上；调节四维调节机构使装调用靶的可见光像中心与探测器记录面中心重合，且确保X射线成像器件中心仍在直线Ⅰ上。所述的应用方法：整体调整瞄准透镜像与探测器记录面位置关系，实现应用。本发明能够实现用可见光代替不可见X光进行实时在线瞄准，简单方便，将X射线成像器件瞄准效率提升至少80%，具有广阔应用前景。
-
公开(公告)号：CN109164077A
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201811032205.2
申请日：2018-09-05
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6456
Abstract: 本申请提供一种荧光成像方法及装置，用于解决现有技术中基于大型强激光装置的荧光成像技术中荧光信号强度弱的问题。所述荧光成像方法包括：将激光装置产生的多束激光打击在多个泵浦材料片上产生多个泵浦X光，所述多束激光中的每一束激光和所述多个泵浦材料片中的每一个泵浦材料片一一对应；所述多个泵浦X光均匀辐照掺杂荧光元素的样品，产生荧光信号，所述掺杂荧光元素的样品设置于与所述多个泵浦材料片相对应的中心位置；根据所述掺杂荧光元素的样品射出的荧光信号，获得荧光图像。
-
公开(公告)号：CN106707327A
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201710017153.0
申请日：2017-01-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 任宽 , 刘慎业 , 侯立飞 , 杜华冰 , 景龙飞 , 赵阳 , 杨志文 , 韦敏习 , 邓克立 , 姚立 , 詹夏宇 , 李晋 , 杨国洪 , 李三伟 , 江少恩 , 董建军 , 曹柱荣 , 丁永坤
IPC: G01T1/28
CPC classification number: G01T1/28
Abstract: 本发明提供了一种X射线成像器件的瞄准装置及其调校方法和应用方法，所述的瞄准装置包括X射线成像器件、瞄准透镜、可调光阑、支撑机构、四维调节机构和监视器，X射线成像器件位于瞄准透镜中心，且二者分别对靶的X光和可见光成像位置、大小相同；所述的调校方法：将装调用靶中心、X射线成像器件中心和探测器记录面中心放到直线Ⅰ上；调节四维调节机构使装调用靶的可见光像中心与探测器记录面中心重合，且确保X射线成像器件中心仍在直线Ⅰ上。所述的应用方法：整体调整瞄准透镜像与探测器记录面位置关系，实现应用。本发明能够实现用可见光代替不可见X光进行实时在线瞄准，简单方便，将X射线成像器件瞄准效率提升至少80%，具有广阔应用前景。
-
公开(公告)号：CN206421034U
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201720026704.5
申请日：2017-01-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Inventor： 任宽 , 刘慎业 , 侯立飞 , 杜华冰 , 景龙飞 , 赵阳 , 杨志文 , 韦敏习 , 邓克立 , 姚立 , 詹夏宇 , 李晋 , 杨国洪 , 李三伟 , 江少恩 , 董建军 , 曹柱荣 , 丁永坤
IPC: G01T1/28
Abstract: 本实用新型提供了一种X射线成像器件的瞄准装置，所述的瞄准装置包括X射线成像器件、瞄准透镜、可调光阑、支撑机构、四维调节机构和监视器，X射线成像器件位于瞄准透镜中心，且二者分别对靶的X光和可见光成像位置、大小相同。本实用新型能够实现用可见光代替不可见X光进行实时在线瞄准，简单方便，将X射线成像器件瞄准效率提升至少80%，具有广阔应用前景。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
12
records
(took 0.062 seconds)
