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公开(公告)号：CN114236285B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202111542515.0
申请日：2021-12-14
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明涉及集成爆轰实验测试系统技术领域，公开了一种爆轰实验电测动态自检测试系统，包括触发模块、信号延时电路、若干个开关导通电路；所述触发模块用于提供触发信号给所述信号延时电路，同时，所述触发信号通过同步输出模块同步进行输出；所述信号延时电路设有多个输出通道，且每个输出通道的触发时间依次顺延延时若干纳秒，每个所述通道通过对应的所述开关导通电路将触发线号输出给电探针电路，本发明还公开了一种爆轰实验电测动态自检测试方法。本发明实现了多路电探针分时放电，各个通道间延时若干纳秒递增，可在示波器上很快检查各个通道的状态。
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公开(公告)号：CN107167622A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710482550.5
申请日：2017-06-22
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01P1/00
CPC classification number: G01P1/00
Abstract: 本发明公开了一种弯式同轴探针组件，包括：位于炸药外壳上方，用于容纳并支撑水平放置电缆的外罩壳体，位于所述外罩壳体内，与探针孔同轴设置，用于将所述外罩壳体固定于所述炸药外壳表面的固定件，所述外罩壳体包括置于所述炸药外壳表面的具有竖直和水平连接板的L型底座以及与所述底座连接的外壳部，所述底座的水平连接板的底部与所述炸药外壳表面相接触，所述水平连接板上设有与所述探针孔相通的开孔，所述底座竖直连接板中部水平设有电缆托举架；所述外壳部与所述底座连接，形成可容纳电缆和探针的屏蔽空间，在所述外壳部一侧，靠近所述电缆插入方向的侧板处设有电缆孔，用于使电缆电缆水平穿过后可置于所述电缆托举架上。
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公开(公告)号：CN107167622B
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN201710482550.5
申请日：2017-06-22
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01P1/00
Abstract: 本发明公开了一种弯式同轴探针组件，包括：位于炸药外壳上方，用于容纳并支撑水平放置电缆的外罩壳体，位于所述外罩壳体内，与探针孔同轴设置，用于将所述外罩壳体固定于所述炸药外壳表面的固定件，所述外罩壳体包括置于所述炸药外壳表面的具有竖直和水平连接板的L型底座以及与所述底座连接的外壳部，所述底座的水平连接板的底部与所述炸药外壳表面相接触，所述水平连接板上设有与所述探针孔相通的开孔，所述底座竖直连接板中部水平设有电缆托举架；所述外壳部与所述底座连接，形成可容纳电缆和探针的屏蔽空间，在所述外壳部一侧，靠近所述电缆插入方向的侧板处设有电缆孔，用于使电缆电缆水平穿过后可置于所述电缆托举架上。
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公开(公告)号：CN105628522B
公开(公告)日：2018-04-06
申请号：CN201610191192.8
申请日：2016-03-30
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01N3/313
Abstract: 本发明涉及光电瞬态测试技术领域，提供一种测量金属密实物质前界面的阶跃信号电探针测试电路，包括电探针和阶跃信号形成电路，阶跃信号形成电路包括电压源、第一电阻、第二电阻、第一电容、第二电容、第三电阻，第一电阻的一端与电压源连接，第二电阻的一端与电探针连接，第二电阻的另一端、第一电容的一端、第二电容的一端与第一电阻的另一端连接，第一电容的另一端、第二电容的另一端与第三电阻的一端连接，第三电阻的另一端均接地。本发明提出的技术方案具有长时间恒压放电能力，具备深入微喷射物质层并响应金属样品密实物质界面的测试能力。
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公开(公告)号：CN105807287A
公开(公告)日：2016-07-27
申请号：CN201610273792.9
申请日：2016-04-28
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
CPC classification number: G01S17/58 , G01S7/4918
Abstract: 本发明涉及光电瞬态测试技术领域，提供一种光强自适应型激光多普勒测速仪，以解决现有激光多普勒测速仪在爆轰加载测试时出现的信号波形超屏并丢失信号的问题，其包括激光器、第一光纤分束器、环形器、光纤探头、光纤耦合器、光强自动增益调节反馈模块，光强自动增益调节反馈模块包括光强调制器、控制器、差分比较器、第一光电转换器、第二光电转换器、第二光纤分束器、第三光纤分束器、第三光电转换器。本发明提出的技术方案保证了激光多普勒测速仪获得的干涉信号一直处于稳定状态，改善了激光多普勒测速仪信噪比不稳定以及信噪比差的缺点，另外还避免了光强突变带来的超屏信号丢失现象，解决了现有技术中的激光多普勒测速仪的有效信号丢失问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104660204A
公开(公告)日：2015-05-27
申请号：CN201510074749.5
申请日：2015-02-13
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: H03H7/01
Abstract: 本发明提供了一种带漏电指示RC信号适配器，适配器中的发光二极管D1与发光二极管保护电阻R1并联，发光二极管D1负极方向节点d接直流电源插接件SSMB的芯线l点，发光二极管D1正极方向节点c接充电电阻R2一端，充电电阻R2另一端节点b同时与信号输入插接件SMA芯线的a点和储能电容C1一端连接，信号输入插接件SMA地线接地，晶体二极管D2与晶体二极管保护电阻R3并联，晶体二极管D2正极方向e节点与储能电容C1另一端连接，晶体二极管D2负极方向节点f同时与信号输出插接件BNC芯线和负载电阻R4一端g点连接，信号输出插接件BNC的地线和负载电阻R4另一端h点接地。RC信号适配器利用贴片式发光二极管侦测探针的绝缘状态，可以快速、准确的定位漏电探针。
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公开(公告)号：CN114236285A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111542515.0
申请日：2021-12-14
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明涉及集成爆轰实验测试系统技术领域，公开了一种爆轰实验电测动态自检测试系统，包括触发模块、信号延时电路、若干个开关导通电路；所述触发模块用于提供触发信号给所述信号延时电路，同时，所述触发信号通过同步输出模块同步进行输出；所述信号延时电路设有多个输出通道，且每个输出通道的触发时间依次顺延延时若干纳秒，每个所述通道通过对应的所述开关导通电路将触发线号输出给电探针电路，本发明还公开了一种爆轰实验电测动态自检测试方法。本发明实现了多路电探针分时放电，各个通道间延时若干纳秒递增，可在示波器上很快检查各个通道的状态。
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公开(公告)号：CN113660554A
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110968334.8
申请日：2021-08-23
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种大规模传感系统电信号时分复用数据采集装置及系统，该装置包括若干组电/光/电延迟线模块、信道时分开关阵列和数据采集系统，每组电/光/电延迟线模块连接信道时分开关阵列，信道时分开关阵列连接数据采集系统；每组电/光/电延迟线模块，用于接收一组电信号并对其进行转换和延时处理，得到一组处理后的电信号；信道时分开关阵列，用于对多组处理后的电信号进行时分复用到对应的数据采集通道；数据采集系统，用于对经过信道时分开关阵列时分复用后的电信号进行采集和储存。本发明可实现多个传感器电信号的时分传输控制，可实现一路数据采集通道对多路同步传感器信号的采集，从而大大节省示波器/数据采集系统的需求。
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公开(公告)号：CN107015131A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710393026.0
申请日：2017-05-27
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
CPC classification number: G01R31/1263 , G01N27/92
Abstract: 本发明公开了一种测量金属表面微喷射物质的双极式电探针及测试电路，包括基杆、放电极和地极，基杆由绝缘材料制造而成，放电极和地极均由导电材料制造而成，基杆上沿着其长度方向上开有第一连接凹槽和第二连接凹槽，放电极整体镶嵌于第一连接凹槽中，地极整体镶嵌于第二连接凹槽中，放电极具有检测端A和连接端A，地极具有检测端B和连接端B，基杆靠近放电极检测端A的一端端部为检测端C，基杆远离放电极检测端A的另一端端部为连接端C，放电极的连接端A电连接有第一连接电缆。本发明的电路具有长时间放电能力，具备深入微喷射物质层并响应金属样品的微喷射物质界面或/和密实物质界面的测试能力。
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公开(公告)号：CN105842705A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610273992.4
申请日：2016-04-28
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01S17/58
CPC classification number: G01S17/58
Abstract: 本发明涉及光电瞬态测试技术领域，提供一种光功率控制系统、控制方法及激光多普勒测速仪，该光功率控制系统包括光功率参考值输入模块、反射光功率检测模块、控制器、光功率调节模块。本发明提出的技术方案中的发射光功率能够根据反射光功率变化进行动态调节，使反射光功率恒定且与参考光功率相等或保持固定比例，使反射光与参考光耦合干涉信号幅值稳定、基线稳定，能够保证被测物能够返回足够功率的光，提高测试信号的质量，提高信号信噪比，同时还能够抑制因为反射光太弱导致的信号丢失现象，提高测试可靠性。
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