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公开(公告)号：CN113432753B
公开(公告)日：2021-11-16
申请号：CN202110999746.8
申请日：2021-08-30
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01K11/324
Abstract: 本发明公开了一种利用荧光单峰宽度温度响应特性的测温方法，包括：步骤一、对荧光材料进行冷却或者加热；在设定的若干温度点进行保温，保温期间记录各温度点的温度值；步骤二、在各温度点，采用拉曼光谱仪收集荧光材料的荧光单峰，拟合分析该荧光单峰，获得与每个温度点对应的荧光单峰的半高宽值；步骤三、根据各温度点的温度值和步骤二获得的各温度点对应的荧光单峰的半高宽值，建立半高宽温度标准曲线；步骤四、将荧光材料置于待测温度场中，收集其荧光单峰，拟合分析该荧光单峰，获得荧光单峰的半高宽值；步骤五、计算待测温度场的测量值，测量完成。本发明解决了荧光强度比测温技术需同时满足高灵敏度、高精度和较小测量误差的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103644859B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310689823.5
申请日：2013-12-16
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明涉及非接触式测量领域，尤其是涉及测量金刚石压砧在极端高温高压条件下形变的装置及方法。本发明针对现有技术存在的问题，提供一种可测量金刚石压砧在极端高温高压条件下形变的装置及方法。具体通过探测光发射光路、信号接收光路以及信号处理计算机获得金刚石压砧在极端高温高压条件下的形变；所述探测光发射光路提供宽谱带探测光，所述信号接收光路收集从金刚石压砧前台面返回的信号光和从其后台面返回的参考光，两束光在信号接收光路的光纤光谱仪中发生频谱干涉；通过计算机处理光纤光谱仪输出的频谱干涉信号，获得金刚石压砧在极端高温高压条件下的形变。
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公开(公告)号：CN116818494A
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202310577390.8
申请日：2023-05-22
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种消除金刚石对顶砧样品腔内外温差的加温测温装置及方法，涉及DAC压力装置测试技术领域，该装置包括金刚石垫块和电炉，金刚石垫块形成用于安装金刚石压砧的安装腔，电炉用于安装于金刚石压砧的侧面，并通过产生热量经金刚石垫块传入金刚石压砧，电炉与金刚石垫块之间配置有高温导热胶；其中，电炉、金刚石垫块以及高温导热胶的结构及分布关于金刚石压砧的轴线对称，轴线是指金刚石压砧纵轴线和横轴线；该方法基于该装置实现。该测温装置及方法通过对称型结构设计，增强热传导方式热量传输，提升加温区域温场分布的均匀性，能够原位测量样品的真实温度，并量化测量温度与真实温度的偏差。
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公开(公告)号：CN113432753A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202110999746.8
申请日：2021-08-30
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01K11/324
Abstract: 本发明公开了一种利用荧光单峰宽度温度响应特性的测温方法，包括：步骤一、对荧光材料进行冷却或者加热；在设定的若干温度点进行保温，保温期间记录各温度点的温度值；步骤二、在各温度点，采用拉曼光谱仪收集荧光材料的荧光单峰，拟合分析该荧光单峰，获得与每个温度点对应的荧光单峰的半高宽值；步骤三、根据各温度点的温度值和步骤二获得的各温度点对应的荧光单峰的半高宽值，建立半高宽温度标准曲线；步骤四、将荧光材料置于待测温度场中，收集其荧光单峰，拟合分析该荧光单峰，获得荧光单峰的半高宽值；步骤五、计算待测温度场的测量值，测量完成。本发明解决了荧光强度比测温技术需同时满足高灵敏度、高精度和较小测量误差的问题。
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公开(公告)号：CN103644859A
公开(公告)日：2014-03-19
申请号：CN201310689823.5
申请日：2013-12-16
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本发明涉及非接触式测量领域，尤其是涉及测量金刚石压砧在极端高温高压条件下形变的装置及方法。本发明针对现有技术存在的问题，提供一种可测量金刚石压砧在极端高温高压条件下形变的装置及方法。具体通过探测光发射光路、信号接收光路以及信号处理计算机获得金刚石压砧在极端高温高压条件下的形变；所述探测光发射光路提供宽谱带探测光，所述信号接收光路收集从金刚石压砧前台面返回的信号光和从其后台面返回的参考光，两束光在信号接收光路的光纤光谱仪中发生频谱干涉；通过计算机处理光纤光谱仪输出的频谱干涉信号，获得金刚石压砧在极端高温高压条件下的形变。
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公开(公告)号：CN203881304U
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201320830307.5
申请日：2013-12-16
Applicant: 中国工程物理研究院流体物理研究所
IPC: G01B11/16
Abstract: 本实用新型涉及非接触式测量领域，尤其是涉及测量金刚石压砧在极端高温高压条件下形变的装置。本实用新型针对目前尚无有效的方法对金刚石压砧在高温高压条件下的形变进行测量、难以满足在DAC加载条件下对样品厚度进行原位精确测量的问题，提供一种测量金刚石压砧在极端高温高压条件下形变的装置，具体通过探测光发射光路、信号接收光路以及信号处理计算机来实现；所述探测光发射光路提供宽谱带探测光，所述信号接收光路收集从金刚石压砧前台面返回的信号光和从其后台面返回的参考光，两束光在信号接收光路的光纤光谱仪中发生频谱干涉；通过计算机处理光纤光谱仪输出的频谱干涉信号，获得金刚石压砧在极端高温高压条件下的形变。
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