氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置和方法

    公开(公告)号:CN108020612B

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN201711390218.2

    申请日:2017-12-21

    Abstract: 本发明属于气相色谱分析技术领域,涉及氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置和方法。所述的分析装置包括三通管道、第一四通管道、第二四通管道、六通阀、第一四通阀、第二四通阀、检测器、机械泵、含氚样品气回收罐、尾气排风口、标气钢瓶、样品气进样口、压力传感器、预分离柱、分析柱。利用本发明的分析装置和方法,能够在用于氢同位素气体和/或氦气中微量杂质组分H2、O2、N2、CO、CH4、CO2的含量分析时,一次完成所有杂质组分含量的分析,样品消耗量小,分析时间短,尾气排放量少,分析准确度高。

    氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置和方法

    公开(公告)号:CN108020612A

    公开(公告)日:2018-05-11

    申请号:CN201711390218.2

    申请日:2017-12-21

    Abstract: 本发明属于气相色谱分析技术领域,涉及氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置和方法。所述的分析装置包括三通管道、第一四通管道、第二四通管道、六通阀、第一四通阀、第二四通阀、检测器、机械泵、含氚样品气回收罐、尾气排风口、标气钢瓶、样品气进样口、压力传感器、预分离柱、分析柱。利用本发明的分析装置和方法,能够在用于氢同位素气体和/或氦气中微量杂质组分H2、O2、N2、CO、CH4、CO2的含量分析时,一次完成所有杂质组分含量的分析,样品消耗量小,分析时间短,尾气排放量少,分析准确度高。

    氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置

    公开(公告)号:CN207689440U

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201721808534.2

    申请日:2017-12-21

    Abstract: 本实用新型属于气相色谱分析技术领域,涉及氢同位素气和/或氦气中微量杂质含量的分析装置。所述的分析装置包括三通管道、第一四通管道、第二四通管道、六通阀、第一四通阀、第二四通阀、检测器、机械泵、含氚样品气回收罐、尾气排风口、标气钢瓶、样品气进样口、压力传感器、预分离柱、分析柱。利用本实用新型的分析装置,能够在用于氢同位素气体和/或氦气中微量杂质组分H2、O2、N2、CO、CH4、CO2的含量分析时,一次完成所有杂质组分含量的分析,样品消耗量小,分析时间短,尾气排放量少,分析准确度高。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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