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公开(公告)号:CN110751619A
公开(公告)日:2020-02-04
申请号:CN201910803366.5
申请日:2019-08-28
发明人: 李伟性 , 郑武略 , 王朝硕 , 王宁 , 赵航航 , 吴泽辉 , 方苏 , 陈乃添 , 李兴 , 张富春 , 郑晓 , 范敏 , 陈浩 , 张礼昌 , 梁伟昕 , 陈远军 , 丁红涛 , 张蔓
摘要: 本发明公开了一种绝缘子缺陷检测方法,包括:采集绝缘子整体区域图像样本;构建目标检测的深度卷积网络,以利用深度卷积网络来检测整体绝缘子区域;标注绝缘子区域,并构建语义分割的深度全卷积网络,以将绝缘子前景区域分割出来;计算分割后的前景区域的主分量,旋转图像使绝缘子区域保持水平,然后采用扫描线算法提取缺陷区域。本方法通过采用深度学习来实现大面积绝缘子区域的提取以及绝缘子前景区域的分割,同时利用计算机视觉中的扫描线算法来实现小面积的绝缘子缺陷的提取,从而解决了现有绝缘子检测困难的问题,提升了检测的准确性。