电磁继电器寿命评估方法

    公开(公告)号:CN113777482B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN202111111533.3

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本申请提供一种电磁继电器寿命评估方法,该方法包括:根据触点电流和触点电压计算得到待测继电器的触点接触电阻的阻值;确定待测继电器失效并记录待测继电器的失效数据;根据最优拟合原则和待测继电器的失效数据,分别预估低温组和高温组的寿命分布曲线;选取80%的可靠度,基于寿命分布曲线获取低温组的中位寿命和高温组的中位寿命;根据低温组的中位寿命、低温组的温度、高温组的中位寿命、高温组的温度代入阿伦尼乌斯模型,求解阿伦尼乌斯模型的未知参数;将电磁继电器的使用环境温度代入已求解的阿伦尼乌斯模型,计算得到待测继电器的寿命评估结果等步骤。本申请能够对电磁继电器的寿命进行评估,并提高评估结果准确性。

    一种电磁继电器触点回跳时间测试装置及方法

    公开(公告)号:CN113066694A

    公开(公告)日:2021-07-02

    申请号:CN202110323046.7

    申请日:2021-03-25

    Abstract: 本申请提供一种电磁继电器触点回跳时间测试装置及方法,所述装置包括继电器负载电阻、控制单元、电源单元、信号发生器和数据采集器,所述控制单元分别与所述信号发生器、所述电源单元及测试继电器线圈的第一端连接;所述测试继电器线圈的第二端与所述电源单元连接;所述测试继电器待测触点的第一端与所述继电器负载电阻及所述数据采集器连接,所述测试继电器待测触点的第二端与所述电源单元连接;所述数据采集器还与所述继电器负载电阻连接。本申请的装置及方法,可以准确测试电磁继电器的触点回跳时间,降低了对人力资源的损耗,提升了测试结果的准确程度。

    电磁继电器寿命评估方法

    公开(公告)号:CN113777482A

    公开(公告)日:2021-12-10

    申请号:CN202111111533.3

    申请日:2021-09-23

    Abstract: 本申请提供一种电磁继电器寿命评估方法,该方法包括:根据触点电流和触点电压计算得到待测继电器的触点接触电阻的阻值;确定待测继电器失效并记录待测继电器的失效数据;根据最优拟合原则和待测继电器的失效数据,分别预估低温组和高温组的寿命分布曲线;选取80%的可靠度,基于寿命分布曲线获取低温组的中位寿命和高温组的中位寿命;根据低温组的中位寿命、低温组的温度、高温组的中位寿命、高温组的温度代入阿伦尼乌斯模型,求解阿伦尼乌斯模型的未知参数;将电磁继电器的使用环境温度代入已求解的阿伦尼乌斯模型,计算得到待测继电器的寿命评估结果等步骤。本申请能够对电磁继电器的寿命进行评估,并提高评估结果准确性。

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