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公开(公告)号:CN108956376A
公开(公告)日:2018-12-07
申请号:CN201810429325.X
申请日:2018-05-08
Applicant: 中国农业大学
IPC: G01N11/00
Abstract: 本发明属于食品检测技术领域,具体涉及一种食品流变特性检测系统。所述检测系统包括机体、升降实验台系统、气力产生系统、形变检测系统、应力感测系统、控制和信息处理系统。检测食品流变特性的过程为:将待测食品样品置于托盘,由空气压缩机压缩的空气,依次经调压阀、两级空气过滤,再由电气比例阀调整为特定压力后,空气进入电磁阀,空气最终进入气室,由喷嘴喷出,喷出的空气作用于待测食品样品表面,产生压缩变形。激光位移传感器采集待测食品样品变形信息,电磁力平衡传感器采集待测食品样品表面的压力信息,上述信息反馈至嵌入式微处理器进行处理,最终获得待测食品样品的流变特性信息。
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公开(公告)号:CN109612964A
公开(公告)日:2019-04-12
申请号:CN201811470293.4
申请日:2018-11-27
Applicant: 中国农业大学
IPC: G01N21/359 , G01N15/00
Abstract: 本发明涉及一种消除栽培基质颗粒表面散射及水分影响的光谱检测方法,包括如下步骤:S1、栽培基质颗粒快速干燥去除所含的水分;S2、栽培基质颗粒快速粉碎;S3、利用目数≥50目的标准筛网对粉碎栽培基质颗粒进行筛选;S4、筛选后的栽培基质颗粒光谱数据采集;S5、采用理化实验测定栽培基质颗粒待测化学成分理化值;S6、以3:1的比例将样品集划分为校正集和验证集;S7、对校正集光谱数据进行预处理,并利用校正集建立栽培基质颗粒实测理化值与预处理光谱数据之间的关系模型,再利用验证集数据检验模型的预测性能。该模型用于栽培基质颗粒化学成分的快速检测,并能有效地消除栽培基质颗粒表面散射和水分对光谱预测结果的影响。
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公开(公告)号:CN108956376B
公开(公告)日:2020-04-28
申请号:CN201810429325.X
申请日:2018-05-08
Applicant: 中国农业大学
IPC: G01N11/00
Abstract: 本发明属于食品检测技术领域,具体涉及一种食品流变特性检测系统。所述检测系统包括机体、升降实验台系统、气力产生系统、形变检测系统、应力感测系统、控制和信息处理系统。检测食品流变特性的过程为:将待测食品样品置于托盘,由空气压缩机压缩的空气,依次经调压阀、两级空气过滤,再由电气比例阀调整为特定压力后,空气进入电磁阀,空气最终进入气室,由喷嘴喷出,喷出的空气作用于待测食品样品表面,产生压缩变形。激光位移传感器采集待测食品样品变形信息,电磁力平衡传感器采集待测食品样品表面的压力信息,上述信息反馈至嵌入式微处理器进行处理,最终获得待测食品样品的流变特性信息。
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