阵列比吸收率测试设备的校准系统

    公开(公告)号:CN209486278U

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201821953291.6

    申请日:2018-11-26

    Abstract: 本实用新型提供一种阵列比吸收率测试设备的校准系统,包括:信号源装置、偶极子天线和待测阵列比吸收率测试设备;其中,所述信号源装置与所述偶极子天线的射频接口连接,所述偶极子天线与所述待测阵列比吸收率测试设备连接;所述信号源装置用于:产生电磁波信号;所述偶极子天线用于:根据所述电磁波信号产生电场;所述待测阵列比吸收率测试设备用于:测量所述偶极子天线产生电场的场强值,所述场强值用来与预设场强值进行比较确定校准因子。该方案可以实现对阵列比吸收率测试设备进行校准。

    一种比吸收率测量稳定系统

    公开(公告)号:CN208314173U

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201820850997.3

    申请日:2018-06-04

    Abstract: 本实用新型实施例提出了一种比吸收率测量稳定系统,包括:信号发生器、功率放大器、耦合器、功率计及连接所述信号发生器的工控机;所述信号发生器连接所述功率放大器,所述功率放大器连接所述耦合器,所述耦合器连接所述功率计及外部的SAR验证测试系统,所述功率计测量所述SAR验证测试系统的实际电磁波信号频率、功率;所述工控机分别比较设定电磁波信号与所述SAR验证测试系统的实际电磁波信号的频率、功率大小,并调整所述信号发生器发出的电磁波信号的频率、功率大小,以使所述实际电磁波信号的频率、功率大小与所述设定电磁波信号一致。

    Sub-6G频段近场测量探头校准系统

    公开(公告)号:CN209488583U

    公开(公告)日:2019-10-11

    申请号:CN201920346953.1

    申请日:2019-03-19

    Abstract: 本实用新型提出了一种Sub-6G频段近场测量探头校准系统,包括:控制器、信号源装置、TEM暗室、空气波导、平坦模型、定向平板天线以及液体波导,定向平板天线紧贴放置于平坦模型的下方,液体波导至少包括R40LS和R58LS,控制器连接信号源装置,信号源装置分别与TEM暗室、空气波导、定向平板天线、液体波导进行连接;控制器控制信号源装置产生信号,信号源装置将电磁波信号通过同轴电缆导入TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导内;控制器还用于记录并根据电磁波信号的实际功率得到待校准的近场测量探头的校准因子,实现对Sub-6G频段近场测量探头的校准。

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