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公开(公告)号：CN105395194A
公开(公告)日：2016-03-16
申请号：CN201510938293.2
申请日：2015-12-14
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: A61B5/0476 , A61B5/0478
CPC classification number: A61B5/0476 , A61B5/0478 , A61B5/4064 , A61B5/7264 , A61B5/7271
Abstract: 本发明公开了一种功能磁共振成像辅助的脑电通道选择方法，克服了现有技术中，单纯依靠脑电数据进行脑电通道选择所面临的空间分辨率的问题。该发明含有以下四个步骤：（1）由fMRI实验数据获取相关功能脑区的激活情况；（2）由大脑标准结构像构建EEG正演模型；（3）通过EEG 正演模型计算各个通道和特定脑功能的相关程度；（4）根据得到的脑功能相关程度地形图对EEG 通道进行选择。与现有技术相比，本发明利用了fMRI技术高空间分辨率的优势，在一定程度上突破了脑电通道选择中EEG空间分辨率低的限制；相比于传统的依靠经验或数据分析进行通道选择，更有理论依据；可针对不同人，制定出不同的通道选择方法。
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公开(公告)号：CN104155541A
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201410335063.2
申请日：2014-07-15
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种微处理器电磁与热应力复合环境敏感性测试方法，包括：RF干扰信号源(1)、功率放大器(2)、耦合电容(3)、电源分布网络(4)、受试微处理器(5)、印刷电路板(6)、恒温加热箱(7)、直流电源(8)、示波器(9)，同时本发明还提供了一种基于电容耦合注入干扰的微处理器电磁与热应力复合环境敏感性测试的方法；本系统易于搭建，成本低，测试快速便捷，解决了微处理器电磁与热应力复合敏感性测试难的问题；同时测试方法简单，操作流程清晰，可在150KHz至1GHz整个频段内精细测试微处理器不同工作环境温度的电磁敏感性，也可在指定的工作温度或某个频点进行抽样测试。
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公开(公告)号：CN105395194B
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201510938293.2
申请日：2015-12-14
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: A61B5/0476 , A61B5/0478
Abstract: 本发明公开了一种功能磁共振成像辅助的脑电通道选择方法，克服了现有技术中，单纯依靠脑电数据进行脑电通道选择所面临的空间分辨率的问题。该发明含有以下四个步骤：（1）由fMRI实验数据获取相关功能脑区的激活情况；（2）由大脑标准结构像构建EEG正演模型；（3）通过EEG正演模型计算各个通道和特定脑功能的相关程度；（4）根据得到的脑功能相关程度地形图对EEG通道进行选择。与现有技术相比，本发明利用了fMRI技术高空间分辨率的优势，在一定程度上突破了脑电通道选择中EEG空间分辨率低的限制；相比于传统的依靠经验或数据分析进行通道选择，更有理论依据；可针对不同人，制定出不同的通道选择方法。
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公开(公告)号：CN104155541B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410335063.2
申请日：2014-07-15
Applicant: 中国人民解放军信息工程大学
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种微处理器电磁与热应力复合环境敏感性测试方法，包括：RF干扰信号源络(4)、受试微处理器(5)、印刷电路板(6)、恒温加热箱(7)、直流电源(8)、示波器(9)，同时本发明还提供了一种基于电容耦合注入干扰的微处理器电磁与热应力复合环境敏感性测试的方法；本系统易于搭建，成本低，测试快速便捷，解决了微处理器电磁与热应力复合敏感性测试难的问题；同时测试方法简单，操作流程清晰，可在150KHz至1GHz整个频段内精细测试微处理器不同工作环境温度的电磁敏感性，也可在指定的工作温度或某个频点进行抽样测试。(1)、功率放大器(2)、耦合电容(3)、电源分布网
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