公开(公告)号：CN119169069A

公开(公告)日：2024-12-20

申请号：CN202411005007.2

申请日：2024-07-25

Applicant: 中南大学

Inventor： 何虎 ,  陶逸琨 ,  童汇 ,  郭学益

IPC: G06T7/62 ,  G06T7/73 ,  G06T7/44

Abstract: 本发明涉及微纳颗粒检测技术领域，公开了一种基于颗粒显微高清晰度成像的多粒径检测方法及系统，包括：获取颗粒混合溶液的颗粒显微图像，基于颗粒显微图像确定颗粒图像清晰度评估函数；获取颗粒混合溶液的光学图像，对光学图像中颗粒的位置进行标注，将标注区域作为前景区域将光学图像中除标注区域外的区域作为背景区域并进行融合重构得到重构图像，并对重构图像进行非团聚颗粒粒度信息和团聚颗粒粒形信息分析，根据分析结果得到颗粒区域对比度纹理特征；根据颗粒区域对比度纹理特征区分不同粒径颗粒得到颗粒的双峰分布和多粒径分布信息与单粒径分布信息；本发明解决了现有的检测方法存在鲁棒性较低、粒径信息质量较差的问题。

公开(公告)号：CN117351483A

公开(公告)日：2024-01-05

申请号：CN202311230770.0

申请日：2023-09-21

Applicant: 中南大学

Inventor： 何虎 ,  陶逸琨

IPC: G06V20/69 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06V10/764 ,  G06V10/50 ,  G06N3/084

Abstract: 本发明公开了一种微纳颗粒识别方法，采用目标检测模型获取到目标图像中微纳颗粒的前景图像，再从前景图像中提取微纳颗粒的粒形特征信息，并基于所述粒形特征信息进行分类预测，能减少背景对微纳颗粒分类预测的影响，能在训练数据有限的前提下，提高微纳颗粒分类预测的准确性，基于上述分类方法，本发明还公开了一种宏量微纳颗粒自适应检测方法能实现团聚微纳颗粒、非团聚微纳颗粒的粒度、粒形特征信息的分类统计，能提高检测的准确性。