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公开(公告)号：CN111522736A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN202010222414.4
申请日：2020-03-26
Applicant: 中南大学
Inventor： 张叶迪 , 李祖德
IPC: G06F11/36 , G06K9/62
Abstract: 本发明提供了一种软件缺陷预测方法、装置、电子设备及计算机存储介质，该方法先获得原始缺陷数据集，再获得类分布平衡的缺陷数据集，最后构建软件缺陷预测模型，能够获得比单一学习器更好的泛化性能。
